Исследование структуры тонких слоев гексадекана на металлической подложке методом ИК-спектроскопии
Веттегрень В.И.1, Тупицына А.И.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, С.-Петербург Институт проблем машиноведения РАН, С.-Петербург
Поступила в редакцию: 15 сентября 1997 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1998 г.
При помощи ИК-спектроскопии исследуется структура слоев гексадекана толщиной 0.5-10 mum на металлической подложке в области 3000-2800 cm-1. Результаты позволили предположить, что в слоях толщиной от 3 до 10 mum существуют флуктуации плотности, а в более тонких - гексадекан кристаллизуется.
- Snyder R.G. // J. Chem. Phys. 1979. V. 71. P. 3229
- Kodati V.K., Jastimi R., Lafleur M. // J. Phys. Chem. 1994. V. 98. P. 12191
- Wood K.A., Snуder R.G., Strauss H.L. // J. Chem. Phys. 1989. V. 91. P. 5255
- Lee K.J., Mattice W.L., Snyder R.G. // J. Phys. Chem. 1992. V. 96. P. 9138
- Волькенштейн М.В., Грибов Л.А., Ельяшевич М.А., Степанов Б.И. Колебания молекул. М.: Наука, 1972. 830 с
- Wong P.T.T., Chagwedera T.E., Mantch H.H. // J. Chem. Phys. 1987. V. 87. P. 4487
- Stanley H.E. // Introduction to phase transitions and critical phenomena. Clarendon Press. Oxford. 1971. 435 p
- Wu C.K., Jura G., Shen M. // J. Appl. Phys. 1972. V. 43. P. 4348
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук