Вышедшие номера
Исследование структуры тонких слоев гексадекана на металлической подложке методом ИК-спектроскопии
Веттегрень В.И.1, Тупицына А.И.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, С.-Петербург Институт проблем машиноведения РАН, С.-Петербург
Поступила в редакцию: 15 сентября 1997 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1998 г.

При помощи ИК-спектроскопии исследуется структура слоев гексадекана толщиной 0.5-10 mum на металлической подложке в области 3000-2800 cm-1. Результаты позволили предположить, что в слоях толщиной от 3 до 10 mum существуют флуктуации плотности, а в более тонких - гексадекан кристаллизуется.