Анализы с помощью сканирующего туннельного микроскопа поверхностной структуры графита, подвергнутого импульсному облучению осколками деления
Козодаев М.А.1, Макеев О.Н.1, Хохряков В.Ф.1, Осадчук Л.А.1, Леваков Б.Г.1, Залужный А.Г.1, Бабаев В.П.1, Суворов А.Л.1
1ГНЦ РФ Институт теоретической и экспериментальной физики, Москва РФЯЦ Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики, Снежинск Московский инженерно-физический институт (технический университет)
Поступила в редакцию: 30 декабря 1999 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2000 г.
Разработана методика облучения конструкционных материалов осколками деления в растворных импульсных ядерных реакторах. С помощью метода сканирующей электронной микроскопии проведены исследования структуры поверхности высокоориентированного пиролитического графита, подвергнутого импульсному облучению осколками деления. Флюенсы облучения варьировались в пределах от 1011 до 5· 1012 fragments/cm2. Определен спектр поверхностных дефектов, шероховатость формируемой поверхности облучения.
- Magonov S.N., Whangbo M.-H. Surface Analysis with STM and AFM. Experimental and Theoretical Aspects of Image Analysis. West Sussex, WILLEY-VCH, 1995
- Суворов А.Л. Автоионная микроскопия радиационных дефектов в металлах. М.: Энергоиздат, 1982
- Суворов А.Л., Чеблуков Ю.Н., Лазарев Н.Е., Бобков А.Ф., Попов М.О., Бабаев В.П. Изучение поверхностных и объемных дефектов в углероде и кремнии методами автоионной и сканирующей туннельной микроскопии. Препринт ИТЭФ N 24. М., 1998
- Дьянков В.С., Королев В.П., Кормилитцин А.И. и др. // Физика металлов и металловедение. 1996. Т. 81. Ч. 2. С. 245
- Казарян В.Т., Литвиненко Б.А., Рогинетс Л.П., Савушкин И.А. Физические основы использования кинетической энергии осколков деления в радиационной химии. Минск: Наука и техника, 1972
- Talibuddin A., Runt J.P. // J. Appl. Phys. 1994. V. 76. N 9. P. 5070
- Козодаев М.А., Логинов Б.А., Суворов А.Л., Козодаев А.М. // Современные проблемы ядерной физики, физики и химии конденсированных сред. (Труды Первой Московской международной школы физики ИТЭФ). М.: Усп. физ. наук, 1998. С. 241
- Suvorov A.L., Didek A.Yu., Cheblukov Yu.N., Babaev V.P., Fedotov A.S., Popov M.O., Trushin Yu.V., Suris R.A., Kharlamov V.S., Kulikov D.V. // Proc. 43nd Int. Field Emission Symposium, Moscow, 14--19.07.1999. P-90
- Куликов Д.В, Суворов А.Л., Сурис Р.А., Трушин Ю.В., Харламов В.С. // Письма в ЖТФ. 1997. Т. 23. В. 13. С. 27--32
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук