Влияние отраженных электронов пучка на распределение поглощенной энергии в мишени
Беспалов В.И.1, Марков А.Б.1, Проскуровский Д.И.1, Рыжов В.В.1, Турчановский И.Ю.1
1Институт сильноточной электроники СО РАН, Томск Томский политехнический университет
Поступила в редакцию: 9 марта 2000 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2000 г.
Показано, что при облучении мишени электронным пучком, формируемым в диоде прямого действия и транспортируемым к мишени в ведущем магнитном поле, важную роль играют электроны, многократно отраженные от мишени. Методом Монте-Карло исследовано влияние этих электронов, возвращающихся на мишень после отражения в области ускорения, на распределение поглощенной энергии в мишени и спектр электронов, падающих на мишень. Предложен алгоритм расчета этих характеристик, основанный на методе разложения потока электронов по пересечениям границы "мишень-вакуум".
- Назаров Д.С., Озур Г.Е., Проскуровский Д.И. // ПТЭ. 1996. N 4. С. 83--88
- Mueller G., Schumacher G., Strauss D. et al. // Proc. 11th Int. Conf. on High-Power Particle Beams (BEAMS'96). 1996. Prague, Czech. Rep. P. 267--270
- Кольчужкин А.М., Учайкин В.В. Введение в теорию прохождения частиц через вещество. М.: Атомиздат, 1978. 255 с
- Беспалов В.И., Рыжов В.В., Турчановский И.Ю. // Письма ЖТФ. 1998 Т. 24. N 1. С. 45--48
- Марков А.Б. // Изв. вузов. Физика. 2000. N 2. С. 65--70
- Аброян И.А., Андронов А.Н., Титов А.И. Физические основы электронной и ионной технологии. М.: Высш. школа, 1984. 320 с
- Шиллер З., Гайзиг У., Панцер З. Электронно-лучевая технология. М.: Энергия, 1980. 528 с
- Shimizu R., Ikuta T., Murata K. // J. Appl. Phys. 1972. V. 43. N 10. P. 4233--4249
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук