Вышедшие номера
Фотоабляция тонких пленок оксида индия под действием импульсного излучения ArF эксимерного лазера
Калитеевская Н.А.1, Сейсян Р.П.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 29 марта 2001 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2002 г.

Исследования порога абляции пленок оксида In2O3 проводились с целью изучения возможности дальнейшего применения этого материала в качестве фоторезиста для литографии с использованием вакуумного ультрафиолетового излучения (ВУФ). Пленки In2O3 толщиной порядка 30 nm, полученные путем электрон-катодного распыления индия на кварцевые подложки в разреженной кислородосодержащей атмосфере, подвергались воздействию импульсов ArF эксимерного лазера (длина волны излучения lambda=193 nm, длительность импульса tau=20 ns) различной интенсивности Ep. Установлено, что при интенсивности импульса, меньшей чем 30 mJ/cm2, скорость травления исчезающе мала. При увеличении интенсивности травление становится более эффективным, что связано с появлением термической составляющей абляции.