Влияние тонкой пленки сегнетоэлектрика на характеристики микрополосковой линии передачи
Вендик О.Г., Гашинова М.С., Деленив А.Н.
Email: anatoli@ep.chalmers.se
Поступила в редакцию: 18 января 2002 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2002 г.
Выполнен анализ микрополосковой линии (МПЛ) на двухслойной подложке, содержащей тонкий слой сегнетоэлектрика. Для расчета параметров распространения используется подход, основанный на двумерном электродинамическом моделировании. Изучено влияние краевого электрического поля в слое сегнетоэлектрика на характеристики линии. Показано, что для корректного моделирования СВЧ-устройств, использующих двухслойную подложку с сегнетоэлектрическим слоем, следует учитывать параметры сегнетоэлектрического слоя, несмотря на его очень малую толщину.
- Vendik O., Vendik I., Setter N., Tagantsev A., Sherman V., Astafiev K., Waser R., Hoffman S. // Microwave and Wireless Components Letters. 2001. V. 11. N 10. P. 407--409
- Козырев А.Б., Иванов А.В., Солдатенков О.И., Тумаркин А.В., Разумов С.В., Айгунова С.Ю. // Письма в ЖТФ. 2001. Т. 27. В. 24. С. 16--21
- Вендик О.Г., Зубко С.П., Никольский М.А. // ЖТФ. 1997. Т. 69. В. 4. С. 1--7
- Hoffmann R.K. Handbook of Microwave Integrated Circuits. Boston, London: Artech House, 1987
- Kasa I. Microwave Integrated Circuits. New York: Elsevier, 1991
- Itoh T. // IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 1980. V. 28. P. 733--736
- Cano G., Medina F., Horno M. // IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 1998. V. 46. P. 1801--1806
- Cano G., Medina F., Horno M. // IEEE Trans. Microwave Theory Tech. 1992. V. 40. P. 217--227
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук