Спектры термопрограммируемого отжига фотоиндуцированных центров окраски
Глазкова Н.И.1, Михайлов Р.В.1, Кузнецов В.Н.1
1Санкт-Петербургский государственный университет
Email: amber030487@gmail.com
Поступила в редакцию: 30 октября 2014 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2015 г.
С помощью приставки, разработанной для спектрофлуориметра, измерена кинетика in situ фотообразования и термического отжига центров окраски в фотохромной керамике рутила. Нагрев с постоянной скоростью позволил получить спектры отжига центров окраски и оценить глубину ловушек электронных дырок, ответственных за отжиг центров окраски.
- Кудрявцева И., Лущик А., Непомнящих А.И., Савихин Ф., Васильченко Е., Лисовская Ю. // ФТТ. 2008. Т. 50. С. 1603--1606
- Kuznetsov V.N., Ryabchuk V.K., Emeline A.V., Mikhaylov R.V., Rudakova A.V., Serpone N. // Chem. Mater. 2013. V. 25. P. 170--177
- Солнцев К.А., Зуфман В.Ю., Аладьев Н.А. Шевцов С.В., Чернявский А.С., Стецовский А.П. // Неорг. матер. 2008. Т. 44. С. 969--975
- Kuznetsov V.N., Emeline A.V., Rudakova A.V., Aleksandrov M.S., Glazkova N.I. et al. // J. Phys. Chem. C. 2013. V. 117. P. 25 852--25 864
- Chen R. // J. Appl. Phys. 1969. V. 40. P. 570--585
- Kuznetsov V.N., Serpone N. // J. Phys. Chem. C. 2009. V. 113. P. 15 110--15 123
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук