Вышедшие номера
Методы диагностики ориентации NV дефектной структуры в алмазе на основе оптического детектирования магнитного резонанса с модуляцией магнитного поля
Бабунц Р.А.1, Музафарова М.В.1, Анисимов А.Н.1, Солтамов В.А.1, Баранов П.Г.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: pavel.baranov@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 6 декабря 2014 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2015 г.

Предложен метод определения ориентации NV дефектной структуры в алмазе и наноалмазах на основе оптического детектирования магнитного резонанса (ОДМР) с применением модуляции магнитного поля и сканирования частоты СВЧ. После открытия уникальных излучающих свойств NV-дефектов в алмазе, позволяющих оптически регистрировать магнитный резонанс в основном состоянии NV-дефектов при комнатной температуре вплоть до регистрации магнитного резонанса на единичных дефектах [1,2], появилась возможность абсолютной миниатюризации элементной базы микро- и оптоэлектроники вплоть до устройства на основе единичного дефекта. Отдельный NV-дефект представляет собой вакансию углерода (V), в ближайшей координационной сфере которой один из четырех атомов углерода заменен атомом азота (N).