Статистический анализ матриц возбуждения-эмиссии для метода лазерно-индуцированной флуоресценции
РФФИ, 15-01-04788
Правительство РФ, 14Z50.31.0019
Маслов Н.А.1,2, Папаева Е.О.1,2
1Институт теоретической и прикладной механики им. С.А. Христиановича СО РАН, Новосибирск
2Новосибирский национальный исследовательский государственный университет, Новосибирск
Email: nmaslov@itam.nsc.ru, euglenaria@gmail.com
Поступила в редакцию: 24 ноября 2015 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2016 г.
Предложен алгоритм статистического анализа совокупности многокомпонентных матриц возбуждения-эмиссии, основанный на методе главных компонент. Для оптически тонких образцов впервые показана возможность расчета спектров флуоресценции и возбуждения входящих в их состав неизвестных флуорофоров. На примере смесей трех флуоресцентных красок показано, что данный алгоритм позволяет перейти от знакопеременных главных компонент к положительным, соответствующим спектрам реальных веществ. При этом спектры главных компонент хорошо повторяют спектры исходных красителей.
- Richards-Kortum R., Rava R.P., Cothren R. et al. // Spectrochim. Acta. Part A: Mol. Spectrosc. 1989. V. 45. N 1. P. 87--93
- Larionov P.M., Malov A.N., Maslov N.A. et al. // Appl. Opt. 2000. V. 39. N 22. P. 4031--4036
- Chowdary M.V.P., Mahato K.K., Kumar K.K. et al. // Photomedic. Laser Surgery. 2009. V. 27. N 2. P. 241--252
- Liu L., Nie Y., Lin L. et al. // Photodiagn. Photodynam. Therapy. 2013. V. 10. N 2. P. 111--119
- Kim K.I., Jung K., Kim H.J. // Signal Proc. Lett. IEEE. 2002. V. 9. N 2. P. 40--42
- Lu H., Plataniotis K.N., Venetsanopoulos A.N. // Neural Networks. IEEE Transactions on. 2008. V. 19. N 1. P. 18--39
- Liu C.-H., Wang W.B., Kartazaev V. et al. // Proc. SPIE. Opt. Biopsy VII. 2010. V. 7561. P. 756 115 (8 p.)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук