Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Применение электростатической силовой микроскопии для оценки проводимости индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок
Российский фонд фундаментальных исследований, 15-48-04134р_сибирь_а
Российский фонд фундаментальных исследований, 16-08-00763а
Давлеткильдеев Н.А.
1,2, Соколов Д.В.
1, Болотов В.В.
1, Лобов И.А.
1,2
1Омский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук, Омск, Россия 
2Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского
2Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского
Email: nadim@obisp.oscsbras.ru
Поступила в редакцию: 26 сентября 2016 г.
Выставление онлайн: 20 января 2017 г.
Методом электростатической силовой микроскопии (ЭСМ) исследована электрическая проводимость индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок (УНТ), легированных азотом: синтезированных, термически обработанных в инертной атмосфере и облученных ионами аргона. На основе моделирования профиля поперечного сечения ЭСМ-изображения УНТ определялся параметр - разность потенциалов в зазоре "зонд-УНТ" Utip-CNT, величина которого задается проводимостью нанотрубки. Установлена сильная корреляционная зависимость между объемной удельной проводимостью слоя УНТ и усредненным параметром Utip-CNT для всех типов исследованных нанотрубок. Показано, что изменение проводимости легированных УНТ, подвергнутых термическому отжигу или облучению ионами аргона, является следствием изменения состава и концентрации дефектов в стенках УНТ. DOI: 10.21883/PJTF.2017.04.44297.16489
- Елецкий А.В. // Успехи физических наук. 2010. Т. 180. В. 9. С. 897--930
- Yang N., Chen X., Ren T. et al. // Sensor Actuat. B. Chem. 2015. V. 207. P. 690--715
- Ayala P., Arenal R., Rummeli M. et al. // Carbon. 2010. V. 48. P. 575--586
- Melin T., Zdrojek M., Brunel D. // Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology / Ed. B. Bhushan. Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag, 2010. Ch. 4. P. 89--128
- Barboza A.P.M., Gomes A.P., Chacham H., Neves B.R.A. // Carbon. 2010. V. 48. P. 3287--3292
- Болотов В.В., Давлеткильдеев Н.А., Стецько Д.В., Лобов И.А. // Письма в ЖТФ. 2014. Т. 40. В. 21. С. 63--70
- Wiggins-Camacho J.D., Stevenson K.J. // J. Phys. Chem. C. 2009. V. 113. P. 19082--19090
- Fujisawa K., Tojo T., Muramatsu H. et al. // Nanoscale. 2011. V. 3. P. 4359--4364
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
