Полевая десорбция цезия с рения
Бернацкий Д.П.
1, Павлов В.Г.
11Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: bernatskii@ms.ioffe.ru, vpavlov@ms.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 31 мая 2017 г.
Выставление онлайн: 20 января 2018 г.
С помощью метода полевой десорбционной микроскопии исследована десорбция атомов цезия с рениевого полевого эмиттера в электрическом поле. Получена зависимость напряженности десорбирующего электрического поля от степени покрытия поверхности эмиттера атомами цезия. В рамках модели сил зеркального изображения для полевой десорбции проведена оценка теплоты адсорбции атомов цезия в зависимости от поверхностной концентрации цезия и работы выхода поверхности. Науглероживание рениевого эмиттера приводит к изменению характера десорбции и распределения зон десорбции по поверхности эмиттера. DOI: 10.21883/PJTF.2018.04.45645.16893
- Nanofabrication using focused ion and electron. Principles and applications / Eds I. Utke, S. Moshkalev, P. Russell. Oxford University Press, 2012. 380 p
- Avasthi D.K., Mehta G.K. Swift heavy ions for materials engineering and nanostructuring. Springer Ser. in Materials Science. 2011. V. 145. 280 p
- Бернацкий Д.П., Павлов В.Г. // Изв. РАН. Сер. физ. 2009. Т. 73. N 5. С. 713--715
- Beach Th., Vanselow R. // Appl. Phys. 1974. V. 4. P. 265--270
- Muller E.W., Tsong T.T. Field ion microscopy, field ionization and field evaporation. Pergamon Press, 1973. P. 81.
- Bernatskii D.P., Pavlov V.G. // Phys. Low-Dim. Struct. 1997. V. 7. P. 93--98
- Rut'kov E.V., Gall N.R. // Physics and applications of graphene --- experiments / Ed. S. Mikhailov. InTech, 2011. P. 209--292
- Бернацкий Д.П., Павлов В.Г. // Письма в ЖТФ. 2016. Т. 42. В. 11. С. 105--110.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.