Вышедшие номера
Исследование влияния структурных дефектов на спектры фотолюминесценции в n-3C-SiC
Переводная версия: 10.1134/S1063785019060117
Лебедев А.А.1,2, Никитина И.П.1, Середова Н.В.1, Полетаев Н.К., Лебедев С.П.1, Козловский В.В.3, Зубов А.В.4
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
4Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
Email: shura.lebe@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 25 февраля 2019 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2019 г.

Проведено исследование спектров фотолюминесценции в гетероструктурах 3C-SiC/4H-SiC и монокристаллах 3C-SiC. Показано, что эпитаксиальные слои 3C-SiC, выращенные на подложках 4H-SiC, имеют существенно меньшее структурное совершенство, чем монокристаллы 3C-SiC. Обнаружено, что легирование алюминием приводит к появлению характерной фотолюминесценции как в эпитаксиальных слоях, так и в монокристаллах 3C-SiC. В то же время облучение электронами эпитаксиальных слоев не приводит к появлению "дефектной" фотолюминесценции, как это наблюдается для монокристаллов. Высказано предположение, что существующие в эпитаксиальных слоях 3C-SiC двойниковые границы могли служить геттерами радиационных дефектов, являющихся компонентами донорно-акцепторных пар, ответственных за "дефектную" фотолюминесценцию. Ключевые слова: фотолюминесценция, кубический политип карбида кремния, сублимационная эпитаксия, облучение электронами.