Разработка системы низкопрофильного дефлектометра комбинированных систем сканирующей зондовой и оптической микроскопии
Российский научный фонд, 18-19-00718
Мезин А.В.
1, Ефимов А.Е.
2, Соловьева Д.О.
1, Васкан И.С.
1,3, Олейников В.А.
1, Мочалов К.Е.
11Институт биоорганической химии им. академиков М.М. Шемякина и Ю.А. Овчинникова РАН, Москва, Россия
2Национальный медицинский исследовательский центр трансплантологии и искусственных органов им. ак. В.И. Шумакова Минздрава России, Москва, Россия
3Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Долгопрудный, Московская обл., Россия
Email: antefimov@gmail.com, d.solovieva@mail.ru, mochalov@mail.ru, voleinik@mail.ru
Поступила в редакцию: 9 октября 2020 г.
В окончательной редакции: 3 декабря 2020 г.
Принята к печати: 3 декабря 2020 г.
Выставление онлайн: 12 января 2021 г.
Разработана, изготовлена и испытана система низкопрофильного СЗМ-дефлектометра (СЗМ - сканирующая зондовая микроскопия), позволяющая повысить апертуру подводимых объективов до рекордной на данный момент величины NA=0.75. Внедрение такой системы позволит существенно улучшить показатели оптических методик комбинированных систем СЗМ/оптическая микроспектроскопия. Ключевые слова: сканирующая зондовая микроскопия, оптическая микроспектроскопия, корреляционная микроскопия, СЗМ-дефлектометр.
- J. Caplan, M. Niethammer, R.M. Taylor II, K.J. Czymmek, Curr. Opin. Struct. Biol., 21 (5), 686 (2011). DOI: 10.1016/j.sbi.2011.06.010
- T.L. Burnett, P.J. Withers, Nature Mater., 18, 1041 (2019). DOI: 10.1038/s41563-019-0402-8
- B. Joosten, M. Willemse, J. Fransen, A. Cambi, K. van den Dries, Front. Immunol., 9, 1908 (2018). DOI: 10.3389/fimmu.2018.01908
- L. Novotny, B. Hecht, Principles of nano-optics, 2nd ed. (Cambridge University Press, Cambridge, 2012), p. 133
- K.E. Mochalov, A.A. Chistyakov, D.O. Solovyeva, A.V. Mezin, V.A. Oleinikov, I.S. Vaskan, M. Molinari, I.I. Agapov, I. Nabiev, A.E. Efimov, Ultramicroscopy, 182, 118 (2017). DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.06.022
- https://www.ntmdt-si.ru/products/afm-raman-nano-ir-systems/ ntegra-spectra-ii
- A.E. Efimov, I.I. Agapov, O.I. Agapova, V.A. Oleinikov, A.V. Mezin, M. Molinari, I. Nabiev, K.E. Mochalov, Rev. Sci. Instrum., 88, 023701 (2017). DOI: 10.1063/1.4975202
- http://nanoscantech.com/ru/products/spm/spm-72.html
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.