Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2021, выпуск 15 » Статья стр. 3
>>>
Структурная характеризация короткопериодной сверхрешетки на основе гетероструктуры CdF2/CaF2/Si(111) методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии
DOI: 10.21883/PJTF.2021.15.51224.18821
Сорокин Л.М.1, Кютт Р.Н.1, Ратников В.В.1, Калмыков А.Е.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: aekalm@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 9 апреля 2021 г.
В окончательной редакции: 9 апреля 2021 г.
Принята к печати: 21 апреля 2021 г.
Выставление онлайн: 1 июня 2021 г.
PDF версия
Проведено детальное исследование структуры короткопериодной сверхрешетки на основе чередующихся слоев фторидов кадмия и кальция, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на кремниевой подложке (111), методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Установлено, что сверхрешетка находится в псевдоморфном состоянии, найдена латеральная неоднородность с размером фрагментов 10-40 nm. Выяснена причина уширения основного и сателлитных пиков сверхрешетки на кривой дифракции (111). Ключевые слова: сверхрешетка, CdF2, CaF2, просвечивающая электронная микроскопия, рентгеновская дифрактометрия.
  1. L. Esaki, R. Tsu, IBM J. Res. Develop., 14 (1), 61 (1970). DOI: 10.1147/rd.141.0061
  2. A. Spindlberger, D. Kysylychyn, L. Thumfart, R. Adhikari, A. Rastelli, A. Bonannia, Appl. Phys. Lett., 118 (6), 062105 (2021). https://doi.org/10.1063/5.0040811
  3. R. Ramesh, D.G. Schlom, Nature Rev. Mater., 4, 257 (2019). https://doi.org/10.1038/s41578-019-0095-2
  4. S. Das, A. Ghosh, M.R. McCarter, S.-L. Hsu, Y.-L. Tang, A.R. Damodaran, R. Ramesh, L.W. Martin, APL Mater., 6 (10), 100901 (2018). https://doi.org/10.1063/1.5046100
  5. H.-U. Habermeier, Low Temp. Phys., 42 (10), 840 (2016). https://doi.org/10.1063/1.4965889
  6. K.V. Ivanovskikh, R.B. Hughes-Currie, M.F. Reid, J.-P.R. Wells, N.S. Sokolov, R.J. Reeves, J. Appl. Phys., 119 (10), 104305 (2016). https://doi.org/10.1063/1.4943498
  7. N.S. Sokolov, S.V. Gastev, S.V. Novikov, N.L. Yakovlev, A. Izumi, S. Furukawa, Appl. Phys. Lett., 64 (22), 2964 (1994). https://doi.org/10.1063/1.111395
  8. N.S. Sokolov, S.M. Suturin, Thin Solid Films, 367 (1-2), 112 (2000)
  9. N.S. Sokolov, S.V. Gastev, A.Yu. Khilko, R.N. Kyutt, S.M. Suturin, M.V. Zamoryanskaya, J. Cryst. Growth, 201-202, 1053 (1999). https://doi.org/10.1016/S0022-0248(98)01515-2
  10. P.B. Hirsh, A. Howie, B.B. Nicholson, D.W. Pashley, M.J. Whelan, Electron microscopy of thin crystals (Butterworths, London, 1965), p. 129
  11. Р.Н. Кютт, А.Ю. Хилько, Н.С. Соколов, ФТТ, 40 (8), 1563 (1998)
  12. Р.Н. Кютт, Металлофизика и новейшие технологии, 24 (4), 497 (2002)
  13. Г.А. Вальковский, М.В. Дурнев, М.В. Заморянская, С.Г. Конников, А.В. Крупин, А.В. Мороз, Н.С. Соколов, А.Н. Трофимов, М.А. Яговкина, ФТТ, 55 (7), 1396 (2013)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme