Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Структурная характеризация короткопериодной сверхрешетки на основе гетероструктуры CdF2/CaF2/Si(111) методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии
Сорокин Л.М.1, Кютт Р.Н.1, Ратников В.В.1, Калмыков А.Е.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Email: aekalm@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 9 апреля 2021 г.
В окончательной редакции: 9 апреля 2021 г.
Принята к печати: 21 апреля 2021 г.
Выставление онлайн: 1 июня 2021 г.
Проведено детальное исследование структуры короткопериодной сверхрешетки на основе чередующихся слоев фторидов кадмия и кальция, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на кремниевой подложке (111), методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Установлено, что сверхрешетка находится в псевдоморфном состоянии, найдена латеральная неоднородность с размером фрагментов 10-40 nm. Выяснена причина уширения основного и сателлитных пиков сверхрешетки на кривой дифракции (111). Ключевые слова: сверхрешетка, CdF2, CaF2, просвечивающая электронная микроскопия, рентгеновская дифрактометрия.
- L. Esaki, R. Tsu, IBM J. Res. Develop., 14 (1), 61 (1970). DOI: 10.1147/rd.141.0061
- A. Spindlberger, D. Kysylychyn, L. Thumfart, R. Adhikari, A. Rastelli, A. Bonannia, Appl. Phys. Lett., 118 (6), 062105 (2021). https://doi.org/10.1063/5.0040811
- R. Ramesh, D.G. Schlom, Nature Rev. Mater., 4, 257 (2019). https://doi.org/10.1038/s41578-019-0095-2
- S. Das, A. Ghosh, M.R. McCarter, S.-L. Hsu, Y.-L. Tang, A.R. Damodaran, R. Ramesh, L.W. Martin, APL Mater., 6 (10), 100901 (2018). https://doi.org/10.1063/1.5046100
- H.-U. Habermeier, Low Temp. Phys., 42 (10), 840 (2016). https://doi.org/10.1063/1.4965889
- K.V. Ivanovskikh, R.B. Hughes-Currie, M.F. Reid, J.-P.R. Wells, N.S. Sokolov, R.J. Reeves, J. Appl. Phys., 119 (10), 104305 (2016). https://doi.org/10.1063/1.4943498
- N.S. Sokolov, S.V. Gastev, S.V. Novikov, N.L. Yakovlev, A. Izumi, S. Furukawa, Appl. Phys. Lett., 64 (22), 2964 (1994). https://doi.org/10.1063/1.111395
- N.S. Sokolov, S.M. Suturin, Thin Solid Films, 367 (1-2), 112 (2000)
- N.S. Sokolov, S.V. Gastev, A.Yu. Khilko, R.N. Kyutt, S.M. Suturin, M.V. Zamoryanskaya, J. Cryst. Growth, 201-202, 1053 (1999). https://doi.org/10.1016/S0022-0248(98)01515-2
- P.B. Hirsh, A. Howie, B.B. Nicholson, D.W. Pashley, M.J. Whelan, Electron microscopy of thin crystals (Butterworths, London, 1965), p. 129
- Р.Н. Кютт, А.Ю. Хилько, Н.С. Соколов, ФТТ, 40 (8), 1563 (1998)
- Р.Н. Кютт, Металлофизика и новейшие технологии, 24 (4), 497 (2002)
- Г.А. Вальковский, М.В. Дурнев, М.В. Заморянская, С.Г. Конников, А.В. Крупин, А.В. Мороз, Н.С. Соколов, А.Н. Трофимов, М.А. Яговкина, ФТТ, 55 (7), 1396 (2013)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
