Изучение критического угла каналирования ионов активных металлов через тонкие пленки алюминия
Работа выполнена по бюджетной тематике Академии Наук Республики Узбекистан
Исаханов З.А.1, Умирзаков Б.Е.2, Насриддинов С.С.3, Мухтаров З.Э.1, Ёркулов Р.М.1
1Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН Узбекистана, Ташкент, Узбекистан
2Ташкентский государственный технический университет, Ташкент, Узбекистан
3Национальный университет Узбекистана (НУУз), Ташкент, Узбекистан
Email: za.isakhanov@gmail.com
Поступила в редакцию: 7 июня 2021 г.
В окончательной редакции: 18 августа 2021 г.
Принята к печати: 19 августа 2021 г.
Выставление онлайн: 3 октября 2021 г.
Изучены пространственные распределения ионов (K+, Na+), прошедших через тонкие монокристаллические пленки Al толщиной от 180 до 600 Angstrem, и критические углы каналирования. Энергия ионов варьировалась в пределах E0=10-30 keV. Показано, что увеличение энергии пучка первичных ионов приводит к уменьшению ширины максимумов углового распределения, что связано с уменьшением критического угла каналирования psicr. Установлено, что psicr для осевого каналирования не превышает 4-5o, а для плоскостного каналирования - 9-10o. Ключевые слова: критический угол, прохождение ионов, угловое распределение, каналирование, пространственное распределение.
- A. Mazzolari, E. Bagli, L. Bandiera, V. Guidi, H. Backe, W. Lauth, V. Tikhomirov, A. Berra, D. Lietti, M. Prest, E. Vallazza, D. De Salvador, Phys. Rev. Lett., 112, 135503 (2014). DOI: 10.1103/PhysRevLett.112.135503
- Й. Линдхард, УФН, 99 (10), 249 (1969). DOI: 10.3367/UFNr.0099.196910c.0249
- В.П. Кощеев, Д.А. Моргун, Т.А. Панина, Изв. РАН. Сер. физ., 73 (11), 1586 (2009)
- Б.Е. Умирзаков, З.А. Исаханов, М.К. Рузибаева, З.Э. Мухтаров, А.С. Халматов, ЖТФ, 85 (4), 123 (2015). [B.E. Umirzakov, Z.A. Isakhanov, M.K. Ruzibaeva, Z.E. Mukhtarov, A.S. Khalmatov, Tech. Phys., 60 (4), 600 (2015). DOI: 10.1134/S1063784215040301]
- В.П. Кощеев, Ю.Н. Штанов, Д.А. Моргун, Т.А. Панина, в сб. Тр. 22-й Междунар. конф. Взаимодействие ионов с поверхностью" (ВИП-2015) (М., 2015), т. 1, с. 225
- А.В. Иванов, в сб. Тр. 22-й Междунар. конф. Взаимодействие ионов с поверхностью" (ВИП-2015) (М., 2015), т. 1, с. 221
- З.А. Исаханов, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, N 11, 91 (2013). [Z.A. Isakhanov, J. Synch. Investig., 7 (6), 1100 (2013). DOI: 10.1134/S1027451013060074]
- U. Wienands, T.W. Markiewicz, J. Nelson, R.J. Noble, J.L. Turner, U.I. Uggerh j, T.N. Wistisen, E. Bagli, L. Bandiera, G. Germogli, V. Guidi, A. Mazzolari, R. Holtzapple, M. Miller, Phys. Rev. Lett., 114, 074801 (2015). DOI: 10.1103/PhysRevLett.114.074801
- И.В. Лысова, А.Н. Михайлов, в сб. Тр. 22-й Междунар. конф. Взаимодействие ионов с поверхностью" (ВИП-2015) (М., 2015), т. 1, с. 229
- Г.М. Филиппов, А.С. Сабиров, В.А. Александров, А.В. Степанов, в сб. Тр. 24-й Междунар. конф. Взаимодействие ионов с поверхностью" (ВИП-2019) (М., 2019), т. 1, с. 196
- B.E. Umirzakov, D.A. Tashmukhamedova, E.U. Boltaev, A.A. Dzhurakhalov, Mater. Sci. Eng. B, 101, 124 (2003). DOI: 10.1016/S0921-5107(02)00677-3
- Б.Е. Умирзаков, Д.А. Ташмухамедова, Д.М. Мурадкабилов, Х.Х. Болтаев, ЖТФ, 83 (6), 66 (2013). [B.E. Umirzakov, D.A. Tashmukhamedova, D.M. Muradkabilov, K.K. Boltaev, Tech. Phys., 58 (6), 841 (2013). DOI: 10.1134/S1063784213060261]
- З.А. Исаханов, З.Э. Мухтаров, Б.Е. Умирзаков, М.К. Рузибаева, ЖТФ, 81 (4), 117 (2011). [Z.A. Isakhanov, Z.E. Mukhtarov, B.E. Umirzakov, M.K. Ruzibaeva, Tech. Phys., 56 (4), 546 (2011). DOI: 10.1134/S1063784211040177]
- И.Н. Евдокимов, Поверхность, физика, химия и механика, N 3, 3 (1991).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.