Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Деградационные процессы в мемристоре на основе селенида германия с самоформирующимся токопроводящим каналом
1Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники имени В.Г. Мокерова РАН, Москва, Россия 
Email: myx.05@mail.ru
Поступила в редакцию: 10 ноября 2022 г.
В окончательной редакции: 10 ноября 2022 г.
Принята к печати: 16 декабря 2022 г.
Выставление онлайн: 16 января 2023 г.
Изучено влияние температуры на деградационные процессы в мемристоре ионного типа Ag/SnSe/Ge2Se3/W с самоформирующимся токопроводящим каналом в интервале 22-65oC при частоте переключения 100 Hz на основе определения электропроводности мемристора в низкоомном и высокоомном режимах работы. Установлено, что при повышенных температурах деградационные процессы происходят быстрее и затрагивают как низкоомный, так и высокоомный режим работы мемристора. Определена энергия активации деградации, равная 1.16 eV. Ключевые слова: электропроводность, твердый электролит, деградация, токопроводящий канал.
- K.M. Kim, D.S. Jeong, C.S. Hwang, Nanotechnology, 22, 254002 (2011). DOI: 10.1088/0957-4484/22/25/254002
- R. Waser, R. Dittmann, G. Staikov, K. Szot, Adv. Mater., 21, 2632 (2009). DOI: 10.1002/adma.200900375
- I. Valov, R. Waser, J.R. Jameson, M.N. Kozicki, Nanotechnology, 22, 254003 (2011). DOI: 10.1088/0957-4484/22/25/254003
- А.Н. Алёшин, О.А. Рубан, Микроэлектроника, 51 (2), 101 (2022). DOI: 10.31857/S0544126922020028 [A.N. Aleshin, O.A. Ruban, Russ. Microelectron., 51 (2), 59 (2022). DOI: 10.1134/S1063739722020020]
- E. Linn, R. Rosezin, С. Kuegeler, R. Waser, Nat. Mater., 9, 403 (2010). DOI: 10.1038/NMAT2748
- К.A. Campbell, Microelectron. J., 59, 10 (2017). DOI: 10.1016/j.mejo.2016.11.006
- A. Devasia, S. Kurinec, K.A. Campbell, S. Raoux, Appl. Phys. Lett., 96, 141908 (2010). DOI: 10.1063/1.3385781
- К.A. Campbell, J.T. Moore, US Patent 7,151,273 (issued December 19, 2006)
- L. Wu, H. Liu, J. Li, S. Wang, X. Wang, Nanoscale Res. Lett., 14, 177 (2019). DOI: 10.1186/s11671-019-3015-x
- А.К. Иванов-Шиц, И.В. Мурин, Ионика твердого тела (Изд-во СПбГУ, СПб., 2000), т. 1
- Б.С. Бокштейн, М.И. Менделев, Ю.В. Похвиснев, Физическая химия: термодинамика и кинетика (Изд. дом МИСиС, М., 2012)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
