Вышедшие номера
Электрофизические свойства многослойных пленок алмазоподобного углерода с различным содержанием sp3-фазы
Российский научный фонд, Президентская программа исследовательских проектов, реализуемых ведущими учеными, в том числе молодыми учеными, 22-79-00021
Охапкин А.И.1, Королев С.А.1, Краев С.А.1, Юнин П.А.1, Архипова Е.А.1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: poa89@ipmras.ru, PESH@ipm.sci-nnov.ru, kraev@ipmras.ru, yunin@ipmras.ru, suroveginaka@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 9 апреля 2024 г.
В окончательной редакции: 14 мая 2024 г.
Принята к печати: 14 мая 2024 г.
Выставление онлайн: 31 июля 2024 г.

Исследованы удельное сопротивление, диэлектрическая проницаемость и поле пробоя многослойных пленок алмазоподобного углерода с различным содержанием sp3-фазы, полученных в индуктивно связанной плазме метана. Оказалось, что удельное сопротивление пленок сильно зависит от ростовых параметров, в то время как диэлектрическая проницаемость для всех образцов практически не меняется. В результате измерения зависимостей тока от напряжения и температуры установлен прыжковый тип проводимости, определены средняя длина и энергия активации прыжка. При напряжении выше 1 V происходит непрерывное увеличение тока вплоть до пробоя за счет модификации внутренней структуры пленок. Ключевые слова: алмазоподобный углерод, многослойные пленки, электрофизические свойства, прыжковыймеханизм проводимости.
  1. S.A. Smallwood, K.C. Eapen, S.T. Patton, J.S. Zabinski, Wear, 260 (11-12), 1179 (2006). DOI: 10.1016/j.wear.2005.07.019
  2. Y.-J. Chen, K.-C. Chang, T.-C. Chang, H.-L. Chen, T.-F. Young, T.-M. Tsai, R. Zhang, T.-J. Chu, J.-F. Ciou, J.-C. Lou, K.-H. Chen, J.-H. Chen, J.-C. Zheng, S.M. Sze, IEEE Electron Dev. Lett., 35 (10), 1016 (2014). DOI: 10.1109/LED.2014.2343331
  3. D. Nakajima, H. Kuwabara, S. Annaka, S. Fujii, Y. Tanaka, K. Hirakuri, Diam. Relat. Mater., 103, 107731 (2020). DOI: 10.1016/j.diamond.2020.107731
  4. Y. Lu, G. Huang, L. Xi, Diam. Relat. Mater., 94, 21 (2019). DOI: 10.1016/j.diamond.2019.02.019
  5. Y. Iijima, T. Harigai, R. Isono, S. Degai, T. Tanimoto, Y. Suda, H. Takikawa, H. Yasui, S. Kaneko, S. Kunitsugu, M. Kamiya, M. Taki, AIP Conf. Proc., 1929, 020024 (2018). DOI: 10.1063/1.5021937
  6. Y. Li, J. Enomoto, Y. Hirata, H. Akasaka, N. Ohtake, Materials, 14, 2300 (2021). DOI: 10.3390/ma14092300
  7. M. Massi, H.S. Maciel, C. Otani, R.D. Mansano, P. Verdonck, J. Mater. Sci.: Mater. Electron., 12 (4-6), 343 (2001). DOI: 10.1023/A:1011252629646
  8. Md.K. Hassan, B.K. Pramanik, A. Hatta, New Diam. Front. Carbon Technol., 16 (4), 211 (2006). https://myukk.xsrv.jp/free_journal/download.php?fn= NDFCT518_full.pdf
  9. E. Staryga, G.W. Bak, M. D uniewski, Vacuum, 74 (2), 325 (2004). DOI: 10.1016/j.vacuum.2003.12.150
  10. S.H. Lee, J. Moon, Y.J. Jeong, J. Lee, X. Li, H. Wu, W.D. Lu, ACS Appl. Electron. Mater., 2 (3), 701 (2020). DOI: 10.1021/acsaelm.9b00792
  11. W. He, H. Sun, Y. Zhou, K. Lu, K. Xue, X. Miao, Sci. Rep., 7, 10070 (2017). DOI: 10.1038/s41598-017-09413-9
  12. А.И. Охапкин, М.Н. Дроздов, П.А. Юнин, С.А. Краев, Д.Б. Радищев, ФТП, 57 (5), 309 (2023). DOI: 10.21883/FTP.2023.05.56195.09k [A.I. Okhapkin, M.N. Drozdov, P.A. Yunin, S.A. Kraev, D.B. Radishev, Semiconductors, 57 (5), 303 (2023). https://journals.ioffe.ru/articles/57145]
  13. А.И. Охапкин, П.А. Юнин, Е.А. Архипова, С.А. Краев,С.А. Королев, М.Н. Дроздов, В.И. Шашкин, ФТП, 54 (9), 865 (2020). DOI: 10.21883/FTP.2020.09.49822.14 [A.I. Okhapkin, P.A. Yunin, E.A. Arkhipova, S.A. Kraev, S.A. Korolyov, M.N. Drozdov, V.I. Shashkin, Semiconductors, 54 (9), 1056 (2020). DOI: 10.1134/S1063782620090213]
  14. S. Chander, S. Gupta, Ajay, M. Gupta, Superlatt. Microstruct., 120, 217 (2018). DOI: 10.1016/j.spmi.2018.05.039
  15. S. Maikap, R. Panja, D. Jana, Nanoscale Res. Lett., 9 (1), 366 (2014). DOI: 10.1186/1556-276X-9-366

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.