Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2025, выпуск 5 » Статья стр. 3
>>>
Особенности электронных изображений сферолитовых островков в тонких пленках цирконата-титаната свинца
Herzen State Pedagogical University of Russia, internal program, 25 ВН
Пронин В.П. 1, Старицын М.В. 2, Каптелов Е.Ю. 3, Сенкевич С.В. 3, Пронин И.П. 3
1Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
2Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"--Центральный научно-исследовательский институт конструкционных материалов "Прометей", Санкт-Петербург, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: pronin.v.p@yandex.ru, ms_145@mail.ru, Kaptelov@mail.ioffe.ru, Senkevichsv@mail.ioffe.ru, Pronin.v.p@yandex.ru
Поступила в редакцию: 29 июля 2024 г.
В окончательной редакции: 18 октября 2024 г.
Принята к печати: 27 октября 2024 г.
Выставление онлайн: 10 марта 2025 г.
PDF версия
В тонких пленках цирконата-титаната свинца, сформированных двухстадийным методом высокочастотного магнетронного распыления, обнаружены необычные электронные изображения - линии Кикучи каналирования, полученные в режиме обратноотраженных электронов. Обсуждаются причины появления таких изображений в сферолитовых кристаллах. Ключевые слова: тонкие пленки, цирконат-титанат свинца, сферолитовая микроструктура, растровая электронная микроскопия, линии Кикучи, каналирование.
  1. A.G. Shtukenberg, Yu.O. Punin, E. Gunn, B. Kahr, Chem. Rev., 112 (3), 1805 (2012). DOI: 10.1021/cr200297f
  2. A.G. Shtukenberg, Yu.O. Punin, A. Gujral, B. Kahr, Angew. Chem., 53 (3), 672 (2014). DOI: 10.1002/anie.201301223
  3. V.Yu. Kolosov, A.R. Tholen, Acta Mater., 48 (8), 1829 (2000). DOI: 10.1016/S1359-6454(99)00471-1
  4. O.M. Жигалина, Д.Н. Хмеленин, Ю.А. Валиева, В.Ю. Колосов, А.О. Бокуняева, Г.Б. Кузнецов, К.А. Воротилов, А.С. Сигов, Кристаллография, 63 (4), 620 (2018). DOI: 10.1134/S0023476118040318 [O.M. Zhigalina, D.N. Khmelenin, Yu.A. Valieva, V.Yu. Kolosov, A.O. Bokunyaeva, G.B. Kuznetsov, K.A. Vorotilov, A.S. Sigov, Cryst. Rep., 63 (4), 646 (2018). DOI: 10.1134/S1063774518040314]
  5. L. Granasy, T. Pusztai, G. Tegze, J.A. Warren, J.F. Douglas, Phys. Rev. E, 72 (1), 011605 (2005). DOI: 10.1103/PhysRevE.72.011605]
  6. В.Ю. Колосов, Л.М. Веретенников, Ю.Б. Старцева, К.Л. Швамм, ФТП, 39 (8), 990 (2005). https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/5873 [V.Yu. Kolosov, L.M. Veretennikov, Yu.B. Startseva, C.L. Schvamm, Semiconductors, 39 (8), 955 (2005). DOI: 10.1134/1.2010692]
  7. N.R. Lutjes, S. Zhou, J. Antoja-Lleonart, B. Noheda, V. Oceli k, Sci. Rep., 11, 14888 (2021). DOI: 10.1038/s41598-021-94147-y
  8. E.J. Musterman, V. Dierolf, H. Jain, Int. J. Appl. Glass Sci., 13 (3), 402 (2022). DOI: 10.1111/ijag.16574
  9. W. Sun, W. Zhou, RSC Adv., 12, 20022 (2022). DOI: 10.1039/D2RA03302J
  10. B. Da, L. Cheng, X. Liu, K. Shigeto, K. Tsukagoshi, T. Nabatame, Z. Ding, Y. Sun, J. Hu, J. Liu, D. Tang, H. Zhang, Z. Gao, H. Guo, H. Yoshikawa, S. Tanuma, Sci. Technol. Adv. Mater. Meth., 3 (1), 2230870 (2023). DOI: 10.1080/27660400.2023.2230870
  11. E.M. Alkoy, S. Alkoy, T. Shiosaki, Ceram. Int., 33 (8), 1455 (2007). DOI: 10.1016/j.ceramint.2006.06.010
  12. Д.А. Киселев, М.В. Старицын, С.В. Сенкевич, Е.Ю. Каптелов, И.П. Пронин, В.П. Пронин, Письма в ЖТФ, 49 (22), 8 (2023). DOI: 10.21883/PJTF.2023.22.56591.19700 [D.A. Kiselev, M.V. Staritsyn, S.V. Senkevich, E.Yu. Kaptelov, I.P. Pronin, V.P. Pronin, Tech. Phys. Lett., 49 (11), 45 (2023). DOI: 10.61011/TPL.2023.11.57198.19700]
  13. М.В. Старицын, Д.А. Киселев, В.П. Пронин, А.Н. Крушельницкий, С.В. Сенкевич, Е.Ю. Каптелов, И.П. Пронин, Физ.-хим. аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов, вып. 15, 196 (2023). DOI: 10.26456/pcascnn/2023.15.196
  14. L. Song, S. Glinsek, E. Defay, Appl. Phys. Rev., 8 (4), 041315 (2021). DOI: 10.1063/5.0054004
  15. Y. Ma, J. Song, X. Wang, Y. Liu, J. Zhou, Coatings, 11 (8), 944 (2021). DOI: 10.3390/coatings11080944
  16. М.В. Старицын, Конденсированные среды и межфазные границы, 25 (4), 572 (2023). DOI: 10.17308/kcmf.2023.25/11481
  17. J.I. Goldstein, D.E. Newbury, J.R. Michael, N.W.M. Ritchie, J.H.J. Scott, D.C. Joy, Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis (Springer, N.Y., 2018). DOI: 10.1007/978-1-4939-6676-9
  18. А.С. Елшин, И.П. Пронин, С.В. Сенкевич, Е.Д. Мишина, Письма в ЖТФ, 46 (8), 32 (2020). DOI: 10.21883/PJTF.2020.08.49306.18142 [A.S. Elshin, I.P. Pronin, S.V. Senkevich, E.D. Mishina, Tech. Phys. Lett., 46 (4), 385 (2020). DOI: 10.1134/S1063785020040215]
  19. И.П. Пронин, Е.Ю. Каптелов, С.В. Сенкевич, В.А. Климов, Н.В. Зайцева, Т.А. Шаплыгина, В.П. Пронин, С.А. Кукушкин, ФТТ, 52 (1), 124 (2010). https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/1693 [I.P. Pronin, E.Yu. Kaptelov, S.A. Senkevich, V.A. Klimov, N.V. Zaitseva, T.A. Shaplygina, V.P. Pronin, S.A. Kukushkin, Phys. Solid State, 52 (1), 132 (2010). DOI: 10.1134/S1063783410010233]
  20. В.П. Афанасьев, Г.Н. Мосина, А.А. Петров, И.П. Пронин, Л.М. Сорокин, Е.А. Тараканов, Письма в ЖТФ, 27 (11), 56 (2001). https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/39131 [V.P. Afanasjev, G.N. Mosina, A.A. Petrov, I.P. Pronin, L.M. Sorokin, E.A. Tarakanov, Tech. Phys. Lett., 27 (6), 467 (2001). DOI: 10.1134/1.1383827].

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme