Рост методом Чохральского полуизолирующих объемных кристаллов β-Ga2O3, легированных железом, с удельным сопротивлением 160 GΩ· cm
Российский научный фонд (РНФ), Поддержка проведения научных исследований и развития научных коллективов, занимающих лидирующие позиции в определенных областях науки, 24-12-00229
Бауман Д.А.
1, Панов Д.Ю.
1, Спиридонов В.А.
1, Богданов П.А.
1, Иванов А.Ю.
1, Лундин В.В.
2, Лундина Е.Ю.
3, Цацульников А.Ф.
2,4, Романов А.Е.
1,2, Брунков П.Н.
21Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3ООО "Монолюм", Санкт-Петербург, Россия
4НТЦ микроэлектроники РАН, Санкт-Петербург, Россия

Email: dabauman@itmo.ru
Поступила в редакцию: 2 октября 2024 г.
В окончательной редакции: 5 ноября 2024 г.
Принята к печати: 8 ноября 2024 г.
Выставление онлайн: 10 марта 2025 г.
Методом Чохральского выращены объемные кристаллы оксида галлия β-Ga2O3, легированные железом. Анализ спектров рентгеновской дифракции подтвердил присутствие только β-фазы и высокое кристаллическое качество. Измеренное удельное сопротивление составило 160 GΩ· cm. Ключевые слова: объемные кристаллы, оксид галлия, полуизолирующие подложки.
- J.A. Spencer, A.L. Mock, A.G. Jacobs, M. Schubert, Y. Zhang, M.J. Tadjer, Appl. Phys. Rev., 9, 011315 (2022). DOI: 10.1063/5.0078037
- Shivani, D. Kaur, A. Ghosh, M. Kumar, Mater. Today Commun., 33, 104244 (2022). DOI: 10.1016/j.mtcomm.2022.104244
- A. Bhattacharyya, C. Peterson, T. Itoh, S. Roy, J. Cooke, S. Rebollo, P. Ranga, B. Sensale-Rodriguez, S. Krishnamoorthy, APL Mater., 11 (2), 021110 (2023). DOI: 10.1063/5.0137666
- A.A. Petrenko, Ya.N. Kovach, D.A. Bauman, M.A. Odnoblyudov, V.E. Bougrov, A.E. Romanov. Rev. Adv. Mater. Tech., 3 (2), 1 (2021). DOI: 10.17586/2687-0568-2021-3-2-1-26
- Д.А. Закгейм, Д.Ю. Панов, В.А. Спиридонов, А.В. Кремлева, А.М. Смирнов, Д.А. Бауман, А.Е. Романов, М.А. Одноблюдов, В.Е. Бугров, Письма в ЖТФ, 46 (22), 43 (2020). DOI: 10.21883/PJTF.2020.22.50308.18499 [D.A. Zakgeim, D.I. Panov, V.A. Spiridonov, A.V. Kremleva, A.M. Smirnov, D.A. Bauman, A.E. Romanov, M.A. Odnoblyudov, V.E. Bougrov, Tech. Phys. Lett., 46, 1144 (2020). DOI: 10.1134/S1063785020110292]
- D.A. Bauman, D.I. Panov, V.A. Spiridonov, A.V. Kremleva, A.E. Romanov, Func. Mater. Lett., 16 (7), 2340026 (2023). DOI: 10.1142/S179360472340026X
- E. Ohba, T. Kobayashi, T. Taishi, K. Hoshikawa, J. Cryst. Growth, 556, 125990 (2021). DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2020.125990
- C.-W. Su, T.-W. Wang, M.-C. Wu, C.-J. Ko, J.-B. Huang, Solid-State Electron., 179, 107980 (2021). DOI: 10.1016/j.sse.2021.107980
- D. Tanaka, K. Iso, R. Makisako, Y. Ando, J. Suda, IEEE Trans. Electron Dev., 71 (5), 3096 (2024). DOI: 10.1109/TED.2024.3375837
- A. Bhattacharyya, S. Sharma, F. Alema, P. Ranga, S. Roy, C. Peterson, G. Seryogin, A. Osinsky, U. Singisetti, S. Krishnamoorthy, Appl. Phys. Express, 15, 061001 (2022). DOI: 10.48550/arXiv.2201.10028
- M.J. Tadjer, F. Alema, A. Osinsky, M.A. Mastro, N. Nepal, J.M. Woodward, R.L. Myers-Ward, E.R. Glaser, J.A. Freitas, Jr., A.G. Jacobs, J.C. Gallagher, A.L. Mock, D.J. Pennachio, J. Hajzus, M. Ebrish, T.J. Anderson, K.D. Hobart, J.K. Hite, C.R. Eddy, Jr., J. Phys. D, 54, 034005 (2021). DOI: 10.1088/1361-6463/abbc96
- D.A. Bauman, D.Iu. Panov, D.A. Zakgeim, V.A. Spiridonov, A.V. Kremleva, A.A. Petrenko, P.N. Brunkov, N.D. Prasolov, A.V. Nashchekin, A.M. Smirnov, M.A. Odnoblyudov, V.E. Bougrov, A.E. Romanov, Phys. Status Solidi A, 218, 2100335 (2021). DOI: 10.1002/pssa.202100335
- Z. Galazka, J. Appl. Phys., 131, 031103 (2022). DOI: 10.1063/5.0076962
- https://www.novelcrystal.co.jp/eng/wp-content/uploads/2024/ 08/5025c6a8c3a3723c996927ee1e3e7fa9.pdf