Спин-поляризационная электронная оже-спектроскопия пленок ванадия на поверхности FeNi3 (110)
Петров В.Н.1,2, Камочкин А.С.1,2, Уздин В.М.1,2
1С.-Петербургский государственный политехнический университет
2С.-Петербургский государственный университет
Email: Petrov@tuexph.stu.neva.ru
Поступила в редакцию: 13 октября 2003 г.
Выставление онлайн: 19 марта 2004 г.
Методом электронной оже-спектроскопии с разрешением по спину исследованы магнитные свойства пленок ванадия на поверхности FeNi3. Установлено, что пленки ванадия антиферромагнитным образом упорядочены относительно подложки. Индуцированный магнитный момент пленки толщиной 2 монослоя составил ~ 0.35 muB. Показано, что намагниченность подрешетки железа не убывает при напылении ванадия.
- Hjorvarsson B., Dura J.A., Isberg P., Watanabe T., Udovic T.J., Andersson G., Majkrzak C.F. // Phys. Rev. Lett. 1997. V. 79. P. 901
- Leiner V., Westerholt K., Blixt A.M., Zabel H., Hjorvarsson B. // Phys. Rev. Lett. 2003. V. 91. P. 037202
- Uzdin V., Westerholt K., Zabel H., Hjorvarsson B. // Phys. Rev. B. 2003. V. 68
- Spisak D. // J. Hafner Phys. Rev. B. 2000. V. 61. P. 4160
- Schwickert M.M., Coehoorn R., Tomaz M.A., Mayo E., Lederman D., O'Brien W.L., Tao Lin, Harp G. // Phys. Rev. B. 1998. V. 57. P. 13681
- Petrov V.N., Kamochkin A.S. New energy analyzer for spin-polarized Auger electron spectroscopy. // Rev. Sci. Instrum. (To be published)
- Petrov V.N., Landolt M., Galaktionov M.S. et al. // Rev. Sci. Instrum. 1997. V. 68. P. 4385
- Petrov V.N., Grebenshikov V.V., Grachev B.D. et al. // Rev. Sci. Instrum. 2003. V. 74. N 3. P. 1278
- Seah M.D., Dench W.A. // Surf. Interface. Anal. 1979. V. 1. P. 1
- Schroder K., Kisker E., Bringer A. // Sol. State Com. 1985. V. 55. N 4. P. 377
- Sinkovic B., Shekel E., Hulbert S.L. // Phys. Rev. B. 1995. V. 52. R15703
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук