Вышедшие номера
Длина свободного пробега медленных электронов в тонких пленках Cu-фталоцианина
Комолов С.А.1, Лазнева Э.Ф.1, Комолов А.С.1
1Научно-исследовательский институт физики им. В.А. Фока Санкт-Петербургского государственного университета, Санкт-Петербург, Петергоф, Россия
Email: sak.@paloma.spbu.ru
Поступила в редакцию: 5 июня 2003 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2003 г.

Процесс формирования тонких органических слоев Сu-фталоцианина (CuPc) на поверхности кварцевого резонатора, покрытой пленкой золота, исследован в условиях сверхвысокого вакуума с применением низкоэнергетической электронной спектроскопии полного тока (СПТ) при параллельном измерении толщины осаждаемого слоя с помощью кварцевых весов. В результате анализа изменения интенсивности тонкой структуры СПТ в зависимости от толщины слоя CuPc в диапазоне толщин 0-8 nm определены значения длины свободного пробега электронов в тонких органических пленках CuPc, составляющие 6.4, 3.9, 2.6 и 2.3 nm при энергиях электронов соответственно 5.0, 7.2, 14.4 и 18.0 eV выше уровня Ферми.