О методике структурного анализа тонких островковых пленок
Псарев В.И.1, Пархоменко Л.А.1
1Запорожский национальный технический университет, Украина
Email: dilap@zntu.edu.ua
Поступила в редакцию: 12 января 2005 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2005 г.
Получены аналитические формулы для проведения системного анализа структурного огрубления островковых пленок на подложке. Для этой цели предложен метод установления сходства и различия между характеристиками теоретического и экспериментального распределений островков по размерам. Такой способ идентификации распределений позволяет устанавливать корреляционную связь между особенностями трансформации экспериментальных распределений - гистограмм и процессами в островковом пленочном материале.
- Псарев В.И. // Металлы. 1999. N 6. С. 105--110
- Chakraverty B.K. // J. Phys. Chem. Solids. 1967. V. 28. P. 2401--2412
- Псарев В.И. // Металлы. 2003. N 5. С. 87--93
- Кукушкин С.А., Осипов А.В. // ЖЭТФ. 1998. Т. 113. N 6. С. 2193--2208
- Псарев В.И. // Изв. вузов. Физика. 1990. N 12. С. 53--58
- Wagner C. // Zschr. f. Electrochemie. 1961. Bd 65. N 7/8. S. 581--592
- Лифшиц И.М., Слезов В.В. // ЖЭТФ. 1958. Т. 35. N 2/8. С. 479--492
- Vengrenovith R.D. // Acta Metal. 1982. V. 30. N 6. P. 1079--1086
- Кондратьев В.В., Устюгов Ю.М. // ФММ. 1993. Т. 76. N 5. С. 40--50
- Wynblatt P., Gjostein N.A. // Scripta Metallurgica. 1973. V. 7. P. 969--976
- Псарев В.И. // Изв. вузов. Цветная металлургия. 2001. N 3. С. 28--32
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук