Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Полевая ионная микроскопия объектов микрометрового масштаба
1Национальный научный центр "Харьковский физико-технический институт", Харьков, Украина 
Email: mikhailovskij@kipt.kharkov.ua
Поступила в редакцию: 6 июня 2005 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2005 г.
На металлах и сплавах обнаружен аномально низкий уровень напряженности полей испарения и полевой ионизации при повышенных парциальных давлениях паров воды. Показано, что этот эффект может быть использован при ионно-микроскопических исследованиях для формирования и полировки поверхности острийных образцов в микрометровом диапазоне размеров, что позволяет увеличить на 3-4 порядка исследуемый объем образцов.
- Мюллер Э., Цонь Т. Автоионная микроскопия. М.: Металлургия, 1972. 360 с
- Miller M.K., Cerezo A., Hetherington M.G., Smith G.D.W. Atom-Probe Field Ion Microscopy. Oxford: Oxford University Press, 1996. 509 p
- Михайловский И.М., Полтинин П.Я., Федорова Л.И. // ФММ. 1983. Т. 56. В. 1. С. 186--191
- Блашенков Н.М., Лаврентьев Г.Я., Шредник В.Н. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. В. 12. С. 50--55
- Randle V. // Acta Metal. Mater. 1994. V. 43. N 5. P. 1741--1749
- Михайловский И.М., Саданов Е.В. // Поверхность. Физика, химия, механика. 1990. В. 5. С. 119--123
- Lazarenko A.S., Mikhailovskij I.M., Rabukhin V.B., Velikodnaja O.A. // Acta Metal. Mater. 1994. V. 43. N 2. P. 639--643
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
