Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Исследование субмикронных полостей в углеситалле методом фокусированного ионного пучка
1Национальный исследовательский университет "МИЭТ", Зеленоград, Москва, Россия 
2ЗАО "ТРИ Карбон", Москва, Зеленоград
2ЗАО "ТРИ Карбон", Москва, Зеленоград
Email: lemi@miee.ru
Поступила в редакцию: 1 марта 2013 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2013 г.
Метод фокусированного ионного пучка применен для формирования серии параллельных сечений и последующей трехмерной визуализации полостей в углеситалле, измерениях их объемов и определения локальной пористости материала. На основе полученных данных оценена погрешность определения локальной пористости углеситалла по одному сечению. С использованием этих сечений установлено, что пористость в технологических заготовках углеситалла уменьшается по мере его роста в вертикальных коаксиальных реакторах.
- Burchell T.D. Carbon Materials for Advanced Technologies. Kidlington: Elsevier science, 1999. 540 p
- Кукин В.Н., Боргардт Н.И., Агафонов А.В. и др. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2005. N 11. Т. 71. С. 24--30
- Кукин В.Н., Боргардт Н.И., Агафонов А.В. и др. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. В. 17. С. 76--82
- Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Кукин В.Н. // Изв. РАН. Сер. физ. 2011. Т. 75. N 9. С. 1297
- Татаринов В.Ф., Виргилев Ю.С., Евдокимов С.В. // Перспективные материалы. 1999. N 4. С. 41--45
- Татаринов В.Ф., Золкин П.И. // Огнеупоры и техническая керамика. 1999. N 3. С. 37--38
- Вергильев Ю.С., Татаринов В.Ф. // Химия твердого топлива. 2000. N 3. С. 57--63
- Inagaki M. // New carbon materials. 2009. V. 24. N 3. P. 193--222
- Yao N. Focused Ion Beam Systems: Basicand Applications. N.Y.: Cambridge University Press, 2007. 395 pp
- Holzer L., Indutnyi F., Gasser Ph. et al. // J. Microscopy. 2004. V. 216. P. 84--95
- Balach J., Miguel F., Soldera F. et al. // J. Microscopy. 2012. V. 246. P. 274--278
- Roussel L.Y., Stokes D.J., Gestmann I. et al. // Scanning Microscopy. 2009. Proceedings of the SPIE. 2009. V. 7378. P. 73780W--73780W-9
- Inkson B.J., Mulvihill M., Mobus G. // Scripta Materialia. 2001. V. 45. P. 753--758
- ITEM: The TEM imaging platform. Manual. Munster: Olympus Soft Imaging Solutions GmbH, 2007. 231 p
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
