Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2001, выпуск 3 » Статья стр. 1
>>>
Исследования электронной структуры тонких пленок фуллерена, нанесенных различными методами
Шахмин А.Л.1,2, Ходорковский А.М.1,2, Мурашов С.В.1,2, Артамонова Т.О.1,2, Голод А.В.1,2
1РНЦ "Прикладная химия", С.-Петербург
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 14 сентября 2000 г.
Выставление онлайн: 20 января 2001 г.
PDF версия
Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФС) исследуются спектры валентных зон и характеристических потерь энергии фотоэлектронов после 1s пика углерода в тонких пленках фуллерена, нанесенных различными методами. Наличие тонкой структуры в плотности состояний вблизи дна валентной зоны пленок фуллеренов, нанесенных с помощью импульсного сверхзвукового молекулярного пучка (СМП) гелия [1], может свидетельствовать о наличии в них дальнего порядка. Отмечается, что спектры pi-плазмонных потерь в пленках, полученных методами термического и СМП осаждения, существенно отличаются, что может быть связано с более плотной упаковкой молекул C60 в СМП пленке.
  1. Ходорковский М.А., Шахмин А.Л., Мурашов С.В. и др. // Письма в ЖТФ. 1998. Т. 24. В. 10. С. 20--23
  2. Jun Onoe, Aiko Nakao, Kazuo Takeuchi // Phys. Rev. B. 1997. V. 55. N 15. P. 10051--10056
  3. Немошкаленко В.В., Алешин В.Г. Электронная спектроскопия кристаллов. Киев: Наукова думка, 1976. 335 с
  4. Weaver J.H., Jose Luis Martins, Komeda T. et al. // Phys. Rev. Lett. 1991. V. 66. N 13. P. 1741--1744
  5. Силинь А.Р., Трухин А.Н. Точечные дефекты и элементарные возбуждения в кристаллическом и стеклообразном SiO2. Рига: Зинатне, 1985. 244 с
  6. McFeely F.R., Kowalczyk S.P., Ley L. et al. // Phys. Rev. B. 1974. V. 9. N 12. P. 5268--5278
  7. Martin P. Gelfand, Jian Ping Lu // Phys. Rev. Lett. 1992. V. 68. N 7. P. 1050--1053
  8. Ryuichi Kuzuo, Masami Terauchi, Michiyoshi Tanaka et al. // Jpn. J. of Appl. Phys. 1991. V. 30. N 10A. P. L1817--L1818
  9. Rao A.M., Ping Zhou, Kai-An Wang et al. // Science. 1993. V. 259. P. 955--957
  10. Khodorkovski M.A., Shakhmin A.L., Murashov et al. // 21st International symposium on Rarefied Gas Dynamics. Marseille (France), 26--31 July 1998. Book of Abstracts VIII. Special Session Molecular beams. MB P-57, 58
  11. Jun Onoe, Kazuo Takeuchi // Phys. Rev. Lett. 1997. V. 79. N 16. P. 2987--2989

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme