Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2022, выпуск 6 » Статья стр. 7
<<<>>>
Получение регулярных металлических и диэлектрических микроструктур на основе модифицированных при облучении полимерных пленок
DOI: 10.21883/PJTF.2022.06.52203.19084
Переводная версия: 10.21883/TPL.2022.03.53526.19084
Russian Foundation for Basic Research, 18-29-20090
The Ministry of Science and Higher Education of Russian Federation, within the State assignment FSRC `Crystallography and Photonics' RAS
Асадчиков В.Е.1, Бедин С.А.1, Березкин В.В.1, Васильев А.Б.1, Григорьев Ю.В.1, Дьячкова И.Г. 1, Коновко А.А. 2, Назьмов В.П.3,4, Минаев Н.В.1, Епифанов Е.О.1
1Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и Фотоника" Российской академии наук, Москва, Россия
2Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
3Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск, Россия
4Институт химии твердого тела и механохимии СО РАН, Новосибирск, Россия
Email: sig74@mail.ru, konovko@physics.msu.ru
Поступила в редакцию: 18 ноября 2021 г.
В окончательной редакции: 20 декабря 2021 г.
Принята к печати: 20 декабря 2021 г.
Выставление онлайн: 30 января 2022 г.
PDF версия
На основе регулярных пористых полимерных мембран проведен синтез металлических и диэлектрических острийных структур с заданными морфологическими характеристиками. Получены медные структуры высотой ~ 1 μm, диэлектрические острийные микроструктуры из иодноватой кислоты высотой 12 μm и диаметром 1 μm. Обсуждается возможность применения таких оптических элементов для решения задач повышения эффективности детектирования ИК-излучения, усиления сигнала и конверсии в видимый и ближний ИК-диапазоны. Ключевые слова: регулярные мембраны, острийные структуры, медь, иодноватая кислота, преобразования излучения.
  1. C.L. Tan, H. Mohseni, Nanophotonics, 7 (1), 169 (2017). DOI: 10.1515/nanoph-2017-0061
  2. П.С. Самохвалов, Д.О. Володин, С.В. Бозрова, Д.С. Довженко, М.А. Звайгзне, П.А. Линьков, Г.О. Нифонтова, И.О. Петрова, А.В. Суханова, И.Р. Набиев, Письма в ЖТФ, 45 (7), 11 (2019). DOI: 10.21883/PJTF.2019.07.47528.17631 [P.S. Samokhvalov, D.O. Volodin, S.V. Bozrova, D.S. Dovzhenko, M.A. Zvaigzne, P.A. Lin'kov, G.O. Nifontova, I.O. Petrova, A.V. Sukhanova, I.R. Nabiev, Tech. Phys. Lett., 45 (4), 317 (2019). DOI: 10.1134/S1063785019040151]
  3. V. Nazmov, B. Goldenberg, A. Vasiliev, V. Asadchikov, J. Micromech. Microeng., 31 (5), 055011 (2021). DOI: 10.1088/1361-6439/abf331
  4. В.Е. Асадчиков, С.А. Бедин, А.Б. Васильев, И.Г. Дьячкова, Б.Г. Гольденберг, В.П. Назьмов, А.В. Андреев, А.А. Коновко, С.А. Решетов, Кристаллография, 66 (3), 467 (2021). DOI: 10.31857/S002347612103005X [V.E. Asadchikov, S.A. Bedin, A.B. Vasiliev, I.G. Dyachkova, B.G. Goldenberg, V.P. Nazmov, A.V. Andreev, A.A. Konovko, S.A. Reshetov, Crystallogr. Rep., 66 (3), 514 (2021). DOI: 10.1134/S1063774521030056]
  5. В.В. Березкин, С.А. Бедин, А.Б. Васильев, Ю.В. Григорьев, В.П. Назьмов, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, N 2, 39 (2020). DOI: 10.31857/S1028096020020041 [V.V. Berezkin, S.A. Bedin, A.B. Vasiliev, Yu.V. Grigoriev, V.P. Nazmov, J. Synch. Investig., 14 (1), 155 (2020). DOI: 10.1134/S1027451020020044]
  6. A. de Hoogh, A. Opheij, M. Wulf, N. Rotenberg, L. Kuipers, ACS Photonics, 3 (8), 1446 (2016). DOI: 10.1021/acsphotonics.5b00686
  7. Л.И. Горай, Е.В. Пирогов, М.В. Свечников, М.С. Соболев, Н.К. Поляков, Л.Г. Герчиков, Е.В. Никитина, А.С. Дашков, М.М. Борисов, С.Н. Якунин, А.Д. Буравлев, Письма в ЖТФ, 47 (15), 7 (2021). DOI: 10.21883/PJTF.2021.15.51225.18824 [L.I. Goray, E.V. Pirogov, M.V. Svechnikov, M.S. Sobolev, N.K. Polyakov, L.G. Gerchikov, E.V. Nikitina, A.S. Dashkov, M.M. Borisov, S.N. Yakunin, A.D. Bouravleuv, Tech. Phys. Lett. (2021). DOI: 10.1134/S1063785021080071].
  8. L.I. Goray, E.V. Pirogov, M.S. Sobolev, I.V. Ilkiv, A.S. Dashkov, Yu.A. Vainer, M.V. Svechnikov, P.A. Yunin, N.I. Chkhalo, A.D. Bouravlev, Semiconductors, 53 (14), 1910 (2019). DOI: 10.1134/S1063782619140082
  9. И.В. Алтухов, С.Е. Дижур, М.С. Каган, С.К. Папроцкий, Н.А. Хвальковский, А.Д. Буравлев, А.П. Васильев, Ю.М. Задиранов, Н.Д. Ильинская, А.А. Усикова, В.М. Устинов, Письма в ЖЭТФ, 103 (2), 128 (2016). DOI: 10.7868/S0370274X16020090 [I.V. Altukhov, S.E. Dizhur, M.S. Kagan, S.K. Paprotskiy, N.A. Khval'kovskii, A.D. Buravlev, A.P. Vasil'ev, Yu.M. Zadiranov, N.D. Il'inskaya, A.A. Usikova, V.M. Ustinov, JETP Lett., 103 (2), 122 (2016). DOI: 10.1134/S002136401602003X].

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme