В статье, опубликованной в журнале "Письма в Журнал технической физики" (2021, том 47, вып. 14, с. 35-38. DOI: 10.21883/PJTF.2021.14.51185.18793), была допущена ошибка при указании коэффициента стехиометрии x пленок a-SiO_x. В работе указано значение 0.2, которое было получено из спектров пропускания инфракрасного (ИК) диапазона. Более точные измерения, проведенные с помощью методов рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии, показали, что значение коэффициента стехиометрии x исходных пленок a-SiO_x составляет 0.9. Кроме того, это позволило уточнить коэффициент пропорциональности, применяемый для определения концентрации связанного кислорода в a-SiO_x методом ИК фурье-спектроскопии [1]. Так: на с. 35, строка 3 аннотации написано: ...подложка/тонкая пленка золота/тонкая пленка a-SiO_0.2...", должно быть: ...подложка/тонкая пленка золота/тонкая пленка a-SiO_0.9..."; на с. 35, строка 8 сверху в правой колонке написано: ...диапазона [9] и составил 0.2 " , должно быть: ...диапазона [9] и составил 0.9 " ; на с. 36, строка 2 сверху в правой колонке написано: a-SiO_0.2 в верхнем слое образца...", должно быть: a-SiO_0.9 в верхнем слое образца...". Эти исправления не сказываются на выводах указанной работы.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.