Критерии убегания электронов в газовом диоде с игольчатым катодом
Российский научный фонд, Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований отдельными научными группами, 23-19-00053
Зубарев Н.М.
1,2, Зубарева О.В.
1, Яландин М.И.
1,21Институт электрофизики Уральского отделения РАН, Екатеринбург, Россия
2Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
Email: nick@iep.uran.ru, olga@iep.uran.ru, yalandin@iep.uran.ru
Поступила в редакцию: 17 мая 2023 г.
В окончательной редакции: 17 мая 2023 г.
Принята к печати: 20 июля 2023 г.
Выставление онлайн: 15 августа 2023 г.
Теоретически исследуются условия убегания электронов в газовом диоде с катодом в виде иглы. Демонстрируется, что условия убегания качественно различаются для игл со сравнительно большими и малыми радиусами острия, т. е. фактически для различной степени неоднородности электрического поля. В слабонеоднородном поле переход электронов в режим убегания определяется локальным распределением поля вблизи места их старта - вершины иглы. В сильнонеоднородном поле условие убегания носит нелокальный характер: оно определяется поведением электронов в прианодной области. Такое различие приводит к немонотонной зависимости порогового напряжения убегания от радиуса острия. Ключевые слова: убегающие электроны, игольчатый катод, газовый диод, импульсный пробой.
- А.В. Гуревич, ЖЭТФ, 39 (5), 1296 (1960). [A.V. Gurevich, Sov. Phys. JETP, 12 (5), 904 (1961). http://jetp.ras.ru/cgi-bin/e/index/e/12/5/p904?a=list]
- Г.А. Месяц, Ю.И. Бычков, В.В. Кремнев, УФН, 107 (6), 201 (1972). DOI: 10.3367/UFNr.0107.197206b.0201 [G.A. Mesyats, Yu.I. Bychkov, V.V. Kremnev, Sov. Phys. Usp., 15 (3), 282 (1972). DOI: 10.1070/PU1972v015n03ABEH004969]
- Л.П. Бабич, Т.В. Лойко, В.А. Цукерман, УФН, 160 (7), 49 (1990). DOI: 10.3367/UFNr.0160.199007b.0049 [L.P. Babich, T.V. Loiko, V.A. Tsukerman, Sov. Phys. Usp., 33 (7), 521 (1990). DOI: 10.1070/PU1990v033n07ABEH002606]
- L.P. Babich, High-energy phenomena in electric discharges in dense gases (Futurepast, Arlington, USA, 2003)
- N.M. Zubarev, V.Yu. Kozhevnikov, A.V. Kozyrev, G.A. Mesyats, N.S. Semeniuk, K.A. Sharypov, S.A. Shunailov, M.I. Yalandin, Plasma Sources Sci. Technol., 29 (12), 125008 (2020). DOI: 10.1088/1361-6595/abc414
- G.V. Naidis, V.F. Tarasenko, N.Yu. Babaeva, M.I. Lomaev, Plasma Sources Sci. Technol., 27 (1), 013001 (2018). DOI: 10.1088/1361-6595/aaa072
- S.N. Ivanov, V.V. Lisenkov, Yu.I. Mamontov, Plasma Sources Sci. Technol., 30 (7), 075021 (2021). DOI: 10.1088/1361-6595/abf31f
- Д.В. Белоплотов, В.Ф. Тарасенко, Д.А. Сорокин, В.А. Шкляев, ЖТФ, 91 (4), 589 (2021). DOI: 10.21883/JTF.2021.04.50621.292-20 [D.V. Beloplotov, V.F. Tarasenko, D.A. Sorokin, V.A. Shklyaev, Tech. Phys., 66 (4), 548 (2021). DOI: 10.1134/S1063784221040046]
- G.A. Mesyats, E.A. Osipenko, K.A. Sharypov, V.G. Shpak, S.A. Shunailov, M.I. Yalandin, N.M. Zubarev, IEEE Electron Dev. Lett., 43 (4), 627 (2022). DOI: 10.1109/LED.2022.3155173
- В.Ф. Тарасенко, Д.В. Белоплотов, Д.А. Сорокин, ЖТФ, 92 (5), 694 (2022). DOI: 10.21883/JTF.2022.05.52373.317-21 [V.F. Tarasenko, D.V. Beloplotov, D.A. Sorokin, Tech. Phys., 67 (5), 586 (2022). DOI: 10.21883/TP.2022.05.53674.317-21]
- N.M. Zubarev, M.I. Yalandin, G.A. Mesyats, S.A. Barengolts, A.G. Sadykova, K.A. Sharypov, V.G. Shpak, S.A. Shunailov, O.V. Zubareva, J. Phys. D: Appl. Phys., 51 (28), 284003 (2018). DOI: 10.1088/1361-6463/aac90a
- Н.М. Зубарев, Г.А. Месяц, М.И. Яландин, Письма в ЖЭТФ, 105 (8), 515 (2017). DOI: 10.7868/S0370274X17080124 [N.M. Zubarev, G.A. Mesyats, M.I. Yalandin, JETP Lett., 105 (8), 537 (2017). DOI: 10.1134/S002136401708015X]
- L.R. Peterson, A.E.S. Green, J. Phys. B, 1 (6), 1131 (1968). DOI: 10.1088/0022-3700/1/6/317
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.