Вышедшие номера
Метод коррекции слабых пространственных неоднородностей плоскопанельного рентгеновского CCD-детектора
Российский научный фонд, Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований отдельными научными группами, 22-12-00328
Бронвальд Ю.А. 1, Вахрушев С.Б. 1, Алексеева О.А. 1, Будаев А.C.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
Email: yuramel@gmail.com, s.vakhrushev@mail.ioffe.ru, alekseeva.oa@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 12 сентября 2024 г.
В окончательной редакции: 12 сентября 2024 г.
Принята к печати: 7 октября 2024 г.
Выставление онлайн: 13 февраля 2025 г.

В матричных CCD-детекторах, использующихся в рентгеновских монокристальных дифрактометрах, могут проявляться искажения, связанные с неоднородностью их поверхности. Наличие такой неоднородности приводит к искажению дифракционных данных. Рассматривается простой и эффективный метод компенсации слабых искажений дифракционных снимков, вызванных пространственной неоднородностью поверхности детектора. Метод основан на использовании опорных снимков калибровочных порошков и заключается в создании специальной коррекционной маски. Показано, что описанный подход позволяет значительно улучшить точность сбора данных. Ключевые слова: CCD-детектор, рентгеновский дифрактометр, коррекция искажений CCD-детектора.
  1. J.R. Helliwell, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res., 201 (1), 153 (1982). DOI: 10.1016/0167-5087(82)90023-0
  2. A. Evans, N. Jones, D. Rugg, T. Lindley, D. Dye, J. Nucl. Mater., 424 (1-3), 123 (2012). DOI: 10.1016/j.jnucmat.2012.02.013
  3. T. Sui, G. Landini, A. Korsunsky, AIP Conf. Proc., 1394, 113 (2011). DOI: 10.1063/1.3649941
  4. C. Ferreira, M. Fran ois, R. Guillen, Mater. Sci. Forum, 524-525, 761 (2006). DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.524-525.761
  5. A.P. Hammersley, K. Brown, W. Burmeister, L. Claustre, A. Gonzalez, S. McSweeney, E. Mitchell, J.-P. Moy, S.O. Svensson, A.W. Thompson, J. Synchrotron Rad., 4 (2), 67 (1997). DOI: 10.1107/S0909049596015087
  6. W.A. Paciorek, M. Meyer, G. Chapuis, J. Appl. Cryst., 32, 11 (1999). DOI: 10.1107/S0021889898005172
  7. M.L. Hart, M. Drakopoulos, C. Reinhard, T. Connolley, J. Appl. Cryst., 46, 1249 (2013). DOI: 10.1107/S0021889813022437
  8. A. Cervellino, C. Giannini, A. Guagliardi, M. Ladisa, J. Appl. Cryst., 41, 701 (2008). DOI: 10.1107/S0021889808019092