Абрамов В.В.1, Брандт Н.В.1, Кульбачинский В.А.1, Тимофеев А.В.1, Ульяшин А.Г.1, Шлопак Н.В.1, Горольчук И.Г.1
1Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
Выставление онлайн: 17 февраля 1991 г.
Измерена низкотемпературная электропроводность сильно легированного Si<Se>. Результаты интерпретируются в рамках модели с участием D--состояний, отвечающих примесным атомам селена.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.