Проведены экспериментальные исследования угловых зависимостей спектров ЭПР Мп²⁺ в пленках теллурида и селенида свинца, выращенных на подложках щелочно-галоидных соединений методом лазерной квазинепрерывной эпитаксии. Теоретически описаны угловые зависимости эффективных значений константы сверхтонкого взаимодействия, g-фактора и полуширины линий, вызванные аксиальной константой D, возникающей в пленках из-за напряжений, обусловленных несоответствием постоянных решеток и коэффициентов термического расширения в гетеросистеме пленка-подложка.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.