Оптоэлектронные образы поликристаллических тонкопленочных солнечных элементов на основе CuInSe2 и CuInGaSe2, полученные лазерным сканированием
Медведкин Г.А.1, Стольт Л.2, Веннерберг Й.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Уппсала университет, Солнечный центр им. Ангстрёма, п/я 534, S, Уппсала, Швеция
Поступила в редакцию: 1 марта 1999 г.
Выставление онлайн: 20 августа 1999 г.
Методика лазерного сканирования была использована для получения двухмерных и трехмерных оптоэлектронных образов поликристаллических солнечных элементов на основе тонких пленок CuInSe2 и CuInGaSe2. Полученные с помощью тока, индуцированного лазерным лучом, топограммы обнаруживают микрообласти с пониженной фотовольтаической эффективностью и показывают детальное распределение скрытых неоднородностей по всей активной поверхности солнечного элемента. Градация микродефектов по силе и размеру была достигнута путем постэкспериментального графического и цветового моделирования полученных трехмерных образов.
- L. Stolt. Proc. 9th Int. Photovoltaic Science and Engineering Conf. (Miyazaki, Japan, 1996) v. 9, p.135
- J. Hedstrom, H. Ohlsen, M. Bodeg rd, A. Kylner, L. Stolt, D. Hariskos, M. Ruckh, H.W. Schock. Proc. 23rd IEEE Photovoltaic Spec. Conf. (Louisville, 1993) p. 364.)
- J. Hou, S.J. Fonash, J. Kessler. Proc. 25th IEEE Photovotaic Specialists Conf. (Washington D.C., 1996)
- A. Kylner, J. Lindgren, L. Stolt. J. Electrochem. Soc., 143, 2662 (1996)
- G.A. Medvedkin, J. Wennerberg. Proc. Int. Conf. POLYSE'98 (Schwabisch Gmund, Germany, 1998) O4
- I.L. Eisgruber, J.R. Sites. Progress in Photovolt., Res. Appl. (UK) 4, N 1, 63 (1996)
- I.L. Eisgruber, R.J. Matson, J.R. Sites, K.A. Emery. Proc. 1st World Conf. on Photovoltaic Energy Conversion (Hawaii, USA, 1994) v. 1, p. 283
- R.J. Matson, K.A. Emery, I.L. Eisgruber, L.L. Kazmerski. Proc. 12th Europ. Photovoltaic Solar Conf. (Bedford, UK, 1994) p. 1222
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.