Методами рентгеновской дифракции, малоуглового рентгеновского рассеяния и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии проведены структурные исследования порошков нанопористого углерода, полученных хлорированием непосредственно поликристаллических порошков alpha-SiC различной степени дисперсности. По данным малоуглового рассеяния построены функции распределения рассеивающих неоднородностей по радиусам инерции m(R_g) и показано, что средние размеры, а также доля крупных неоднородностей растут с ростом размеров зерен исходного порошка. Как следует из картин дифракции, при этом растет и степень "графитизации" структуры нанокластеров, что связывается с большей длительностью карбонизации более крупных зерен. Анализ фотоэлектронных спектров 1s-электронов атомов углерода показывает, что для преобладающего числа C-C-связей (>65%) гибридизация валентных sigma-связей имеет промежуточный характер в сравнении с графитом и алмазом (sp^x, где 2<x<3), что свидетельствует об искривлении графеноподобных слоев в нанокластерах.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.