Вышедшие номера
Электронографические исследования образования фаз Tl-Fe-Se и кинетики фазовых превращений пленок TlFeSe2
Аскеров Э.Б.1,2, Мададзада А.И.1,3, Исмаилов Д.И.3, Мехтиева Р.Н.2
1Объединенный институт ядерных исследований, Дубна, Россия
2Институт радиационных проблем Национальной академии наук Азербайджана, Баку, Азербайджан
3Институт физики им. Г.М. Абдуллаева НАН Азербайджана, Баку, Азербайджан
Поступила в редакцию: 18 марта 2014 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2014 г.

Методом электронографического структурного анализа и кинематической электронографией исследованы условия образования фаз в системе Tl-Fe-Se и кинетика кристаллизации аморфных пленок TlFeSe2. Показано, что кристаллизация аморфных пленок TlFeSe2 описывается аналитическим выражением кинетических кривых фазовых превращений Vt=V0[1-exp(ktm)]. Определены мерность роста при кристаллизации аморфных пленок TlFeSe2, равная 3, и значения энергии активации зародышеобразования и роста кристалликов.