Вышедшие номера
Рост скорости рекомбинации Шокли-Рида-Холла в квантовых ямах InGaN/GaN как основной механизм падения эффективности светодиодов при высоких уровнях инжекции
Бочкарева Н.И.1, Ребане Ю.Т.1, Шретер Ю.Г.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 30 марта 2015 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2015 г.

Показано, что падение эффективности GaN-светодиодов с увеличеием тока через светодиод (droop effect) вызвано уменьшением безызлучательного времени жизни Шокли-Рида-Холла. Время жизни уменьшается с током, так как все большее число ловушек в хвостах плотности состояний квантовых ям InGaN/GaN становится центрами безызлучательной рекомбинации при приближении квазиуровней Ферми к краям зон. Это следует из обнаруженной корреляции между падением эффективности и появлением отрицательной дифференциальной емкости. Последняя возникает в результате инерционности процесса перезарядки ловушек посредством туннелирования электронов с участием ловушек сквозь n-барьер квантовой ямы и идуктивного характера изменения тока диода при изменении прямого смещения.