Вышедшие номера
Оптические свойства и критические точки наноструктурированных тонких пленок PbSe
Переводная версия: 10.1134/S106378262006007X
Гусейналиев М.Г.1, Ясинова С.Н.1, Джалилли Д.Н.2, Мехтиева С.И.2
1Институт природных ресурсов Нахичеванского отделения Национальной академии наук Азербайджана, A Нахичевань, Азербайджан
2Институт физики Национальной академии наук Азербайджана, Баку, Азербайджан
Email: msalimascience@gmail.com
Поступила в редакцию: 3 февраля 2020 г.
В окончательной редакции: 13 февраля 2020 г.
Принята к печати: 13 февраля 2020 г.
Выставление онлайн: 26 марта 2020 г.

Для изучения оптических свойств наноструктурированных тонких пленок PbSe, полученных методом химического осаждения, был использован метод спектроскопической эллипсометрии. Для лучшего разрешения структуры межзонных переходов и определения критических точек используется функция d2ε/domega2, полученная путем численного дифференцирования экспериментальных данных диэлектрической функции ε/omega. Теоретическая подгонка была проведена с помощью программы "Graphical Analysis". Наилучшая подгонка получена для двухмерной (2D) формы критической точки (m=0), для области энергий E=2-3 эВ и была определена одна критическая точка, соответствующая Eg=2.5 эВ. Это значение относится к переходу L4-> L6 зоны Бриллюэна. Ключевые слова: спектроскопическая эллипсометрия, зона Бриллюэна, химическое осаждение, селенид свинца, диэлектрическая функция, анализ критических точек.