Вышедшие номера
Анализ ПЭМ-изображения квантово-каскадной лазерной гетероструктуры, выращенной методом МОС-гидридной эпитаксии
Афоненко Ан.А.1, Афоненко А.А. 1, Ушаков Д.В.1, Багаев Т.А.2, Ладугин М.А.2, Мармалюк А.А.2, Пушкарев С.С.3,4, Хабибуллин Р.А.3,4
1Белорусский государственный университет, Минск, Республика Беларусь
2"НИИ "Полюс" им. М.Ф. Стельмаха", Москва, Россия
3Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники Российской академии наук, Москва, Россия
4Московский физико-технический институт (Государственный университет), Долгопрудный, Московская обл., Россия
Email: afonenko@bsu.by
Поступила в редакцию: 15 апреля 2024 г.
В окончательной редакции: 20 июня 2024 г.
Принята к печати: 20 июня 2024 г.
Выставление онлайн: 24 июля 2024 г.

Выполнен анализ изображения квантово-каскадной гетероструктуры, сделанного с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Гетероструктура, содержащая 185 периодов и четыре квантовые ямы GaAs/Al0.15Ga0.85As в каждом периоде, была выращена методом МОС-гидридной эпитаксии. Для выявления различий в отклонении состава на границе "барьер/квантовая яма" и "квантовая яма/барьер" при интерполяции экспериментального профиля гетерограниц были использованы различные законы размытия состава (нормальный, экспоненциальный и несимметричный экспоненциальный). Теоретически исследовано влияние конечной толщины образца на характеристики флуктуаций состава, получены спектры и автокорреляционные функции флуктуаций состава. Проведены оценки толщины шероховатостей гетерограниц и их корреляционной длины. Ключевые слова: квантово-каскадный лазер, просвечивающая электронная микроскопия, гетерограница, GaAs, AlGaAs.