Физика и техника полупроводников
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов на основе халькогенидов: влияние состава и толщины на внутреннее искривление кристаллической решетки
1Уральский государственный экономический университет, Екатеринбург, Россия 
Поступила в редакцию: 27 декабря 2004 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2005 г.
Методами просвечивающей электронной микроскопии изучена микроструктура зерна поликристаллических образований, растущих в тонких аморфных конденсатах Ge-Te, Tl-Se, Cd-Te. Методом изгибных экстинкционных контуров в кристаллитах мелкозернистой структуры обнаружен сильный внутренний изгиб кристаллической решетки (до 200 град/мкм). Изучено влияние толщины и состава исходной пленки на величину внутреннего искривления решетки зерна.
- В.Ю. Колосов. Автореф. канд. дис. (Екатеринбург, ИФМ УрО РАН, 1982)
- I.E. Bolotov, V.Yu. Kolosov, A.V. Kozhin. Phys. Status Solidi A, 72, 645 (1982)
- V.Yu. Kolosov, A.R. Tholen. Acta Mater., 48, 1829 (2000)
- В.Ю. Колосов. Тез. докл. 7 Всес. конф. по росту кристаллов (М., ИК АН СССР, 1988) т. 1, с. 13
- V.Yu. Kolosov, L.M. Veretennikov, A.A. Kuzmin, V.A. Mamaev. ICEM-13 (Paris, 1994) v. 2A, p. 397
- V.Yu. Kolosov, L.M. Veretennikov, N.V. Volhina. Proc. 14th Int. Congress on Electron Microscopy (Cancun, Mexico, 1998) v. 2, p. 325
- V.Yu. Kolosov, A.R. Tholen, L.M. Veretennikov. Final Programme and Proceedings, Scandem 2001. Scandinavian Society for Electron Microscopy (Stockholm, 2001) p. 94
- И. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли. М. Уэлен. Электронная микроскопия тонких кристаллов (М., Мир, 1968)
- Л.М. Утевский. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении (М., Металлургия, 1973) с. 188
- D.B. Willams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy, III Imaging (N. Y., Plenum Press, 1996)
- С.А. Векшинский. Новый метод металлографического исследования сплавов (М., ОГИЗ, 1944)
- В.Ю. Колосов, Л.М. Веретенников, К.Л. Швамм. Поверхность, N 1, 95 (2004)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
