Вышедшие номера
Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов на основе халькогенидов: влияние состава и толщины на внутреннее искривление кристаллической решетки
Колосов В.Ю.1, Веретенников Л.М.1, Старцева Ю.Б.1, Швамм К.Л.1
1Уральский государственный экономический университет, Екатеринбург, Россия
Поступила в редакцию: 27 декабря 2004 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2005 г.

Методами просвечивающей электронной микроскопии изучена микроструктура зерна поликристаллических образований, растущих в тонких аморфных конденсатах Ge-Te, Tl-Se, Cd-Te. Методом изгибных экстинкционных контуров в кристаллитах мелкозернистой структуры обнаружен сильный внутренний изгиб кристаллической решетки (до 200 град/мкм). Изучено влияние толщины и состава исходной пленки на величину внутреннего искривления решетки зерна.