Физика и техника полупроводников

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов на основе халькогенидов: влияние состава и толщины на внутреннее искривление кристаллической решетки

Колосов В.Ю.¹, Веретенников Л.М.¹, Старцева Ю.Б.¹, Швамм К.Л.¹

¹Уральский государственный экономический университет, Екатеринбург, Россия Ural State University of Economics, Ekaterinburg, Russia

Поступила в редакцию: 27 декабря 2004 г.

Выставление онлайн: 20 июля 2005 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Методами просвечивающей электронной микроскопии изучена микроструктура зерна поликристаллических образований, растущих в тонких аморфных конденсатах Ge-Te, Tl-Se, Cd-Te. Методом изгибных экстинкционных контуров в кристаллитах мелкозернистой структуры обнаружен сильный внутренний изгиб кристаллической решетки (до 200 град/мкм). Изучено влияние толщины и состава исходной пленки на величину внутреннего искривления решетки зерна.

В.Ю. Колосов. Автореф. канд. дис. (Екатеринбург, ИФМ УрО РАН, 1982)
I.E. Bolotov, V.Yu. Kolosov, A.V. Kozhin. Phys. Status Solidi A, 72, 645 (1982)
V.Yu. Kolosov, A.R. Tholen. Acta Mater., 48, 1829 (2000)
В.Ю. Колосов. Тез. докл. 7 Всес. конф. по росту кристаллов (М., ИК АН СССР, 1988) т. 1, с. 13
V.Yu. Kolosov, L.M. Veretennikov, A.A. Kuzmin, V.A. Mamaev. ICEM-13 (Paris, 1994) v. 2A, p. 397
V.Yu. Kolosov, L.M. Veretennikov, N.V. Volhina. Proc. 14th Int. Congress on Electron Microscopy (Cancun, Mexico, 1998) v. 2, p. 325
V.Yu. Kolosov, A.R. Tholen, L.M. Veretennikov. Final Programme and Proceedings, Scandem 2001. Scandinavian Society for Electron Microscopy (Stockholm, 2001) p. 94
И. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли. М. Уэлен. Электронная микроскопия тонких кристаллов (М., Мир, 1968)
Л.М. Утевский. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении (М., Металлургия, 1973) с. 188
D.B. Willams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy, III Imaging (N. Y., Plenum Press, 1996)
С.А. Векшинский. Новый метод металлографического исследования сплавов (М., ОГИЗ, 1944)
В.Ю. Колосов, Л.М. Веретенников, К.Л. Швамм. Поверхность, N 1, 95 (2004)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель