Протекание тока по металлическим шунтам в омических контактах к широкозонным полупроводникам AIIIBV
Бланк Т.В.1, Гольдберг Ю.А.1, Поссе Е.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 9 февраля 2009 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2009 г.
Экспериментально установлено, что контакт металл-широкозонный полупроводник (GaAs, GaP, GaN) с барьером Шоттки переходит в омический контакт либо в процессе непрерывного нагревания, либо в процессе выдержки при повышенной температуре еще до образования каких-либо рекристаллизованных слоев. При этом сопротивление контакта, приведенное к единице площади, возрастает с ростом температуры для полупроводников с высокой плотностью дислокаций (GaP, GaN). Предполагается, что в таких контактах ток протекает по металлическим шунтам, закорачивающим слой объемного заряда и представляющим собой атомы металла, продиффундировавшие по линиям дислокаций или других несовершенств полупроводника. Сопротивление омического контакта, приведенное к единице площади, в полупроводниках с низкой плотностью дислокаций (GaAs) уменьшается с ростом температуры, как и ожидалось для термоэлектронного механизма протекания тока. PACS: 73.30.+y, 73.40.Cg
- E.H. Rhoderick. Metall--Semiconductor Contacts (Oxford, 1978)
- A.Y.C. Yu. Sol. St. Electron., 13, 239 (1970)
- F. Ren, C.B. Vartuli, S.J. Pearton, C.R. Abernathy, S.M. Donovan, J.D. MacKenzie, R.J. Shul, J.C. Zolper, M.L. Lovejoy, A.G. Baca, M. Hagerott-Crawford, K.A. Jones. J. Vac. Sci. Technol. A, 15, 802 (1997)
- D.W. Kim, H.K. Baik. Appl. Phys. Lett., 77, 1011 (2002)
- H. Shimawaki, N. Furuhata, K. Honjo. J. Appl. Phys., 69, 7939 (1991)
- A. Katz, S. Nakahara, W. Savin, B.E. Weir. J. Appl. Phys., 68, 4133 (1990)
- J.D. Guo, C.I. Lin, M.S. Feng, F.M. Pan, G.C. Chi, T.C. Lee. Appl. Phys. Lett., 68 (2), 235 (1990)
- J.-S. Jang, T.-Y. Seong. Appl. Phys. Lett., 76 (19), 2743 (2000)
- T. Clausen, O. Leistiko. Appl. Phys. Lett., 62 (10), 1108 (1993)
- N.P. Chen, H.J. Ueng, D.B. Janes, J.M. Woodall, M.R. Melloch. J. Appl. Phys., 88, 309 (2000)
- Т.В. Бланк, Ю.А. Гольдберг, О.В. Константинов, В.Г. Никитин, Е.А. Поссе. ФТП, 40 (10), 1204 (2006)
- Т.В. Бланк, Ю.А. Гольдберг. ФТП, 41 (11), 1281 (2007)
- В.Н. Бессолов, Т.В. Бланк, Ю.А. Гольдберг, О.В. Константинов, Е.А. Поссе. ФТП, 42 (11), 1345 (2008)
- Ю.А. Гольдберг. ЖТФ, 66 (1), 174 (1996)
- Chin-Yuan Hsu, Wen-How Lan, Yew Chung Sermon Wu. Jpn. J. Appl. Phys. (A06, A02), 44 (10), 7424 (2005)
- В.В. Евстропов, М. Джумаева, Ю.В. Жиляев, Н. Назаров, А.А. Ситникова, Л.М. Федоров. ФТП, 34 (11), 1357 (2000)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.