Вышедшие номера
Исследование вольт-амперной характеристики гетероструктуры n-CdS/p-CdTe в зависимости от температуры
Усмонов Ш.Н.1, Мирсагатов Ш.А.1, Лейдерман А.Ю.1
1Физико-технический институт им. С.В. Стародубцева Академии наук Республики Узбекистан, Ташкент, Узбекистан
Поступила в редакцию: 18 мая 2009 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2010 г.

Исследованы вольт-амперные характеристики гетероструктуры n-CdS/p-CdTe при различных значениях температуры. Установлено, что прямая ветвь вольт-амперной характеристики таких структур при малых напряжениях (до 0.5 В) описывается экспоненциальной зависимостью, а при больших (до 2.6 В) имеется участок сублинейного роста тока с напряжением. Экспериментальные результаты объясняются на основе теории эффекта инжекционного обеднения. Показано, что произведение подвижности основных носителей на концентрацию глубоких центров растет с ростом температуры.