Фотовольтаический детектор на основе гетероструктуры II типа с глубокой квантовой ямой AlSb/InAsSb/AlSb в активной области для среднего инфракрасного диапазона
Михайлова М.П.1, Андреев И.А.1, Моисеев К.Д.1, Иванов Э.В.1, Коновалов Г.Г.1, Михайлов М.Ю.1, Яковлев Ю.П.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 5 августа 2010 г.
Выставление онлайн: 20 января 2011 г.
Созданы и исследованы фотодетекторы для спектрального диапазона 2-4 мкм на основе асимметричной гетероструктуры II типа p-InAs/AlSb/InAsSb/AlSb/(p,n)GaSb с глубокой одиночной или тремя глубокими квантовыми ямами на гетерогранице, выращенные методом газофазной эпитаксии из металлорганических соединений. Исследованы транспортные, люминесцентные, фотоэлектрические, вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики таких структур. Интенсивная положительная и отрицательная люминесценция наблюдались в спектральном диапазоне 3-4 мкм при высоких температурах (300-400 K). Спектры фоточувствительности лежали в диапазоне 1.2-3.6 мкм (T=77 K). Высокая квантовая эффективность eta=0.6-0.7, токовая чувствительность Slambda=0.9-1.4 А/Вт и обнаружительная способность D*lambda=3.5·1011-1010 см · Гц1/2/Вт были получены в области T=77-200 K. Низкое значение емкости (C=1.5 пФ при V=-1 В, T=300 K) позволило оценить быстродействие фотодетектора tau=75 пс, что соответствует ширине полосы частот около 6 ГГц. Такие фотодетекторы перспективны для гетеродинного приема излучения квантово-каскадных лазеров и инфракрасной спектроскопии.
- S. Haywood, M. Missons. In: Mid-Infrared Semiconductor Optoelectronics, ed. by A. Krier (Springer Series in Optical Sciences, 2006) p. 429
- B.F. Levine. J. Appl. Phsy., 74, R-01 (1996)
- E. Lina, A. Gusman, J. Sanchez-Rocha et al. Infr. Phys. Technol., 44, 383 (2003)
- W. Kruppa, M.J. Yang, B.R. Bennet, J.B. Boss. Appl. Phys. Lett., 85, 774 (2004)
- J. Devenson, R. Teissier, O. Cathabard, A.N. Baranov. Appl. Phys. Lett., 90, 111 (2007)
- D.H. Chow, E.T. Yu, J.R. Sonderson et al. J. Appl. Phys., 68, 3744 (1990)
- M.P. Mikhailova, K.D. Moiseev, Yu.P. Yakovlev. Semicond. Sci. Technol., 19, R109 (2004)
- E. Hulicius, A. Hospodkova, J. Pangrac, T. Simehek, K.D. Moiceev, E.V. Ivanov, M.P. Mikhailova, Yu.P. Yakovlev. Abstracts of 8th Int. Conf. MIOMD (Bad Ischl, Austria, 4-16 May, 2007) p. 184; A. Nakagawa, H. Kroemer, J.H. English. Appl. Phys. Lett., 54, 1893 (1989)
- S. Sasa, M. Nakai, M. Turukawa, M. Inoe. Conf. Ser., 187, 363 (2005)
- M.P. Mikhailova, K.D. Moiseev, T.I. Voronina et al. J. Appl. Phys., 102, 13 710 (2007)
- М.П. Михайлов, Э.В. Иванов, К.Д. Моисеев, Ю.П. Яковлев, E. Hulicius, A. Hospodkova, J. Pangrac, T. Simecek. ФТП, 44 (2), 69 (2010)
- М.П. Михайлова, Т.Н. Данилова, Г.Г. Зегря, А.Н. Именков, К.Д. Моисеев, В.В. Шерстнев, Ю.П. Яковлев. ФТП, 33, 351 (1999)
- K. Moiseev, E. Ivanov, V. Romanov, M. Mikhailova, Yu. Yakovlev, E. Hulicius, A. Hospodkova, J. Pangrac, T. Simecek. Phys. Procedia, 3, 1189 (2010)
- Yu.P. Yakovlev, I.A. Andreev, S.S. Kizhaev, E.V. Kunitsyna, M.P. Mikhailova. Proc. of SPIE, v. 6636, 66 360D-1 (2000)
- M.P. Mikhailova, I.A. Andreev. In: Mid-Infrared Semiconductor Optoelectronics, ed. by A. Krier (Springer Series in Optical Sciences, 2006) p. 542
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.