Фоторефрактивный метод бесконтактного определения рекомбинационных характеристик полупроводников
Миргородский В.И.1, Сабликов В.А.1, Филатов А.Л.1
1Институт радиотехники и электроники Российской академии наук,, Фрязино, Россия
Выставление онлайн: 20 декабря 1992 г.
Предложен бесконтактный фоторефрактивный метод определения времени жизни и коэффициента диффузии носителей заряда с трехмерным пространственным разрешением в объеме массивных образцов полупроводника.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.