Преимущества режима переменного тока, наведенного электронным лучом, для определения параметров полупроводника
Выставление онлайн: 17 февраля 1993 г.
Анализируется влияние центров захвата на фазовый сдвиг тока короткого замыкания, генерируемого точечным источником. Показано, что максимальное значение фазы соответствует коэффиценту эмиссии. Ловушки неосновных носителей, связанные с медью, имплантированной в мелкий n+-p-переход, измерены с помощью методов переменного тока, индуцированного светом и электронным пучком.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.