Предложен метод определения вибронного вклада в сечение фотоионизации иона переходного металла в полупроводнике (вибронная функция формы спектра). Метод основан на переходе из спектрального во временное представление.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.