Калин М.В.1, Пышная Н.Б.1, Тигиняну И.М.1
1Институт прикладной физики АН Молдовы, Кишинев, Молдова
Поступила в редакцию: 19 июля 1993 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1994 г.
Приводятся результаты исследования кривых термостимулированных токов в исходных и облученных электронами (E=3.5-4 МэВ, D=5· 1015-3· 1017 см-2) монокристаллах InP:Fe. В исходных кристаллах обнаружены 5 ловушек с глубинами 0.14, 0.17, 0.27, 0.30 и 0.41 эВ, в то время как в электронно-облученных образцах проявляется только уровень прилипания с глубиной 0.41 эВ. Показано, что при T<300 K активация темновой проводимости кристаллов, облученных электронами при дозе D=3· 1017 см-2, обусловлена термическим выбросом электронов с донорно-подобного уровня Ec-0.4 эВ в зону проводимости.
- R.L. Henry, E.M. Swiggard. J. Electron. Mater., \bf 7, 647 (1978)
- S. Fung, R.J. Nicholas, R.A. Stradling. J. Phys. C: Sol. St. Phys., \bf 12, 5145 (1979)
- Z.-Q. Fang, D.C. Look, J.H. Zhao. Appl. Phys. Lett., \bf 61, 589 (1992)
- N.B. Pyshnaya, S.I. Radautsan, I.M. Tiginyanu, V.V. Ursaki, V.A. Ursu, I.M.Aliev, H.A.Halilov. Cryst. Res. Techn., \bf 26, K129 (1991)
- R. Fornari, B. Santic, U. Desnica. \it Proc. IV Int. Conf. on InP and Related Materials (USA, Newport, 1992) p. 511
- A.G. Milns. \it Deep Impurity in Semiconductors (Wiley, N.Y., 1973) chap. 9
- Ф.П. Коршунов, С.И. Радауцан, Н.А. Соболев, И.М. Тигиняну, В.В. Урсаки, Е.А. Кудрявцева. ФТП, \bf 23, 1581 (1989)
- Ф.П. Коршунов, С.И. Радауцан, Н.А. Соболев, И.М. Тигиняну, Е.А. Кудрявцева, В.А. Урсу, И.Н. Цыпленков, В.Н. Ламм, В.А. Шераухов. ФТП, \bf 24, 2034 (1990)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.