Вышедшие номера
Исследование собственных дефектов в легированном теллуриде висмута электрофизическими методами
Абайдулина Т.Г.1, Житинская М.К.1, Немов С.А.1, Равич Ю.И.1
1Санкт-Петербургский государственный технический университет,, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 4 марта 1994 г.
Выставление онлайн: 20 августа 1994 г.

Изучено влияние отклонения от стехиометрии на электрофизические свойства поликристаллических образцов Bi2Te3, легированного одновременно 5 ат% In и 1 ат% Pb. Полученные образцы обладали дырочным типом проводимости. Обнаружено изменение характера зависимости концентрации дырок от избытков Te и Bi по сравнению с нелегированным Bi2Te3. Предложена интерпретация этих данных, основанная на предположении, что количество антиструктурных дефектов (атомов Bi в подрешетке Te) уменьшается в присутствии электроактивной примеси In. На концентрационной зависимости коэффициента термоэдс S при температурах T~= 120 K обнаружен глубокий минимум вблизи p~ 1· 1019 см-3, связанный, по-видимому, с межзонным рассеянием при участии примесных атомов In.