Проанализированы возможности метода ИК спектроскопии для определения концентрации свободных электронов в слое N_сл и подложке N_подл, а также основных характеристик эпитаксиальных слоев AlGaAsSb.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.