Изучены электрофизические свойства полупроводниковых твердых растворов Cd_1-xMg_xTe, выращенных методом Бриджмена, в зависимости от состава (0=< x =< 0.3). Исследуемые образцы были р-типа проводимости. При 0=< x =< 0.1 концентрация дырок практически не изменялась и соответствовала (3/ 5)· 10¹⁵ см^-3. Дальнейшее увеличение количества Mg (x>0.1) приводило к переходу кристаллов в полуизолирующее состояние [p=(2/ 6)· 10⁷ см^-3]. Предполагается, что такой переход обусловлен компенсирующим действием неконтролируемых примесей и одновременным уменьшением концентрации вакансий кадмия. Показано, что в исследуемых твердых растворах подвижность в значительной мере определяется рассеянием на флуктуациях состава.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.