Определение состава многокомпонентных халькогенидных полупроводников методом рентгенофлюоресцентного анализа
Бордовский Г.А.1, Марченко А.В.1, Николаева А.В.1, Серегин П.П.1, Теруков Е.И.2,3
1Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 20 марта 2013 г.
Выставление онлайн: 20 января 2014 г.
Количественный состав стеклообразных сплавов Asx(GeySe1-y)1-x определялся путем измерения рентгенофлюоресцентного спектра эталонного сплава Ge0.2As0.4Se0.4, из рентгенофлюоресцентных спектров рассчитывались атомные доли мышьяка, германия и селена, а затем строились зависимости xRFA=f(x) и yRGA= f(y), которые позволяют определить состав стекол с точностью ±0.0005 для x и y. Эта методика оказывается эффективной для определения концентрации примеси олова в кристаллических твердых растворах Pb1-xSnxSe. Однако для стеклообразных сплавов типа Tex(AsySe1-y)1-x оказывается невозможным определить содержание теллура в связи с тем, что компоненты сплавов имеют существенно различные рентгеноспектральные характеристики.
- Г.А. Бордовский, А.В. Марченко, П.П. Серегин, Н.Н. Смирнова, Е.И. Теруков. Письма ЖТФ, 35, 15 (2009)
- Г.А. Бордовский, А.В. Марченко, П.П. Серегин, Е.И. Теруков. ФТП, 44, 26 (2010)
- Г.А. Бордовский, П.В. Гладких, И.В. Еремин, А.В. Марченко, П.П. Серегин, Н.Н. Смирнова, Е.И. Теруков. Письма ЖТФ, 37, 15 (2011)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.