Формирование квазипериодического распределения бора в кремнии, инициированное ионной имплантацией
Мясников А.М.1, Ободников В.И.1, Серяпин В.Г.1, Тишковский Е.Г.1, Фомин Б.И.1, Черепов Е.И.1
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Поступила в редакцию: 8 ноября 1995 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 1997 г.
Определен температурный интервал, в котором наблюдается возникновение осциллирующих распределений примеси в сильно легированном бором кремнии, облученном ионами B+. Предполагается, что эффект связан с процессами кластеризации бора, которые наиболее эффективно происходят в районе максимума распределения имплантированной примеси и на границах возмущенной облучением области.
- А.М. Мясников, В.И. Ободников, В.Г. Серяпин, Е.Г. Тишковский, Б.И. Фомин, Е.И. Черепов. Письма ЖЭТФ, 60, 96 (1994)
- Х. Риссел, Н. Рунге. Ионная имплантация (М., Наука, 1983)
- G.D. Watkins. Radiation Damage in Semiconductors (Dunod: Paris. 1964) p. 97
- G. Watkins. Lattice Defects in Semicond., Conf. Ser. No 23. (Inst. of Phys., London--Bristol, 1975) p. 1
- Л.И. Федина, А.Л. Асеев. ФТТ, 32, 60 (1990)
- H. Ryssel, K. Muller, K. Haberger, R. Henkelmann, F. Jahnel. Appl. Phys., 22, 35 (1980)
- V.E. Borisenko, S.G. Yudin. Phys. St. Sol. (a), 101, 123 (1987)
- W.K. Hofker, H.W. Werner, D.P. Oosthoek, H.A.M. de Grefte. Appl. Phys., 2, 265 (1973)
- M.G. Dowsett, E.A. Clark, M.N. Lewis. Proc. 6th Int. Conf. SIMS-VI (1988) p. 725
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.