К вопросу о поглощении инфракрасного излучения свободными носителями заряда в n-Cd1-xZnxTe
Белогорохов А.И.1, Белогорохова Л.И.2, Белов А.Г.1, Лакеенков В.М.1, Смирнова Н.А.1
1Институт редкометаллической промышленности "Гиредмед", Москва, Россия
2Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 24 июня 1998 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1999 г.
Исследовались инфракрасные спектры пропускания монокристаллических образцов n-CdTe и n-Cd1-xZnxTe при 295 и 77 K. Проведен анализ полученных экспериментальных данных в предположении, что наблюдаемые спектральные зависимости коэффициента пропускания обусловлены поглощением инфракрасного излучения свободными носителями заряда. Показано, что результаты расчета удовлетворительно согласуются с экспериментальными данными. Значения концентраций и подвижностей электронов, рассчитанные из спектров пропускания, близки к значениям аналогичных параметров, полученных из электрических измерений.
- Т. Мосс, Г. Баррел, Б. Эллис. Полупроводниковая оптоэлектроника (М., Мир, 1976) с. 27, 45, 51
- Б.М. Аскеров. Кинетические эффекты в полупроводниках (Л., Наука, 1970) с. 39
- M. Cardona. J. Phys. Chem. Sol., 24(4), 1543 (1963)
- M.J.S.H. Brasil, M.C. Tamargo, R.E. Nahory, H.L. Gilchrist, R.J. Martin. Appl. Phys. Lett., 59(10), 1206 (1991)
- Н.Н. Берченко, В.Е. Кревс, В.Г. Средин. Полупроводниковые твердые растворы и их применение (М., Воениздат, 1982) с. 73
- J. Baars, F. Sorger. Sol. St. Commun., 10(9), 875 (1972)
- W.J. Kim, M.J. Park, S.U. Kim, T.S. Lee, J.M. Kim, W.J. Song, S.H. Suh. J. Cryst. Growth, 104(3), 677 (1990)
- B. Li, J. Zhu, X. Zhang, J. Chu. J. Cryst. Growth, 181, 204 (1997)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.